導(dǎo)致電快速脈沖試驗失敗的原因

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脈沖群實行室舉行電源線和信號/控制線的傳導(dǎo)共模干擾試驗。只是電快速干擾脈沖的波形前沿非常陡峭，連續(xù)時間非常短暫，因此含有極其豐富的高頻身分，這就導(dǎo)致在干擾波形的傳輸過程中，會有一部門干擾從傳輸?shù)木€纜中逸出，如許裝備最終收到的是傳導(dǎo)和輻射的復(fù)合干擾。通過該通道ESD干擾能量可從系統(tǒng)接地回路中開釋，因而可間接地克制傳導(dǎo)耦合。

別的，由于試驗脈沖是持續(xù)一段時間的脈沖串，因此它對電路的干擾有一個累積效應(yīng)。

大多數(shù)電路為了抗電磁干擾，在輸入端安裝了積分電路，這種電路對單個脈沖具有很好的克制作用，但是對于一串脈沖則不能有用地抑制。

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導(dǎo)致浪涌沖擊抗擾度試驗失敗的原因

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浪涌脈沖的上升時間較長，脈沖較寬，不含有較高的頻率因素，因此對電路的干擾以傳導(dǎo)為主。

緊張體現(xiàn)在過高的差模電壓幅度導(dǎo)致輸入器件擊穿粉碎，大概過高的共模電壓導(dǎo)致線路與地之間的絕緣層擊穿。

由于器件擊穿后阻抗很低，浪涌發(fā)生器產(chǎn)生的很大電流隨之使器件過熱發(fā)生破壞。

對于有較大平滑電容的整流電路，過電流使器件損壞也大概是起先發(fā)生的。

比方，對開關(guān)電源的高壓整流濾波電路而言，浪涌到來時，整流電路平靜滑電容提供了很低的阻抗，浪涌發(fā)生器輸出的很大的電流流過整流二極管，當(dāng)整流二極管不能遭受這個電流時，就發(fā)生過熱而燒毀。隨著電容的充電，電容上的電壓也會到達很高，有大概導(dǎo)致電容擊穿損壞。若EUT為金屬機箱可在共模扼流圈的兩頭安裝濾波對機箱高頻濾波電容以構(gòu)成л形濾波器，該濾波器電容的巨細應(yīng)以不影響信號的正常傳輸為限。

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傳導(dǎo)抗擾度測試常見題目對策及整改步伐

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傳導(dǎo)抗擾度試驗失敗緣故因由分析如下： 

射頻干擾（RFI）傳輸途徑

GB/T17626中規(guī)定測試干擾注入方法有：

1.耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)注入，常用于電源線抗擾度試驗，當(dāng)信號線數(shù)目較少時也常采取；

2.鉗（電流鉗或電磁耦合鉗）注入；特別實用于對多芯電纜試驗；

3.直接注入:實用于同軸電纜的干擾注入。

對于屏蔽電纜和同軸電纜，干擾只注入到屏蔽層；對于非屏蔽電纜，干擾注入到電纜中每一芯線上。

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