電池組件的制作流程

高壓測試

高壓測試是指在組件邊框和電極引線間施加一定的電壓，測試組件的耐壓性和絕緣強(qiáng)度，以保證組件在惡劣的自然條件(雷擊等)下不被損壞。

組件測試

測試的目的是對電池的輸出功率進(jìn)行標(biāo)定，測試其輸出特性，確定組件的質(zhì)量等級。主要就是模擬太陽光的測試(STC)，一般一塊電池板所需的測試時間在7-8秒左右。

光伏發(fā)電中半片光伏組件的優(yōu)勢  

半片組件憑借其特殊的并串結(jié)構(gòu)，可以使組件在縱向排布提高支架與土地利用率的同時減少陰影遮擋造成的發(fā)電量損失。在陰影遮擋和組件邊沿積灰情況下，半片技術(shù)可將發(fā)電量損失多減少3/4;尤其是在全寬向遮擋情況下，常規(guī)組件輸出功率幾乎為零，而半片組件得益于內(nèi)部電路設(shè)計，仍然保有一半左右的輸出功率。

技術(shù)，使用激光切割法沿著垂直于電池主柵線的方向?qū)?biāo)準(zhǔn)規(guī)格電池片切成相同的兩個半片電池片后進(jìn)行焊接串聯(lián)。由于太陽能晶硅電池電壓與面積無關(guān)，而功率與面積成正比，因此半片電池與整片電池相比電壓不變，功率減半，電流減半。工藝，為了保證和常規(guī)組件的整體輸出電壓、電流一致，半片電池組件一般會采用串聯(lián)-并聯(lián)結(jié)構(gòu)設(shè)計，相當(dāng)于兩塊小組件并聯(lián)在一起。

晶硅光伏組件安裝后，

暴曬50--100天，效率衰減約2--3%，此后衰減幅度大幅減緩并穩(wěn)定有每年衰減0.5--0.8%，20年衰減約20%。單晶組件衰減要約少于多晶組件。非晶光做組件的衰減約低于晶硅。

因此，提升轉(zhuǎn)化率、降低每瓦成本仍將是光伏未來發(fā)展的兩大主題。無論是哪種方式，大規(guī)模應(yīng)用如果能夠?qū)⑥D(zhuǎn)化率提升到30%，成本在每千瓦五千元以下(和水電相平)，那么人類將在核聚變發(fā)電研究成功之前得到為廣泛、清潔、廉價的幾乎無限的可靠新能源。