雖然AOI可用于生產(chǎn)線上的多個位置，各個位置可檢測特殊缺陷，但AOI檢查設(shè)備應(yīng)放到一個可以盡早識別和改正缺陷的位置。有三個檢查位置是主要的：錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。在這里必須指出，比照所有用于AOI和AXI檢查的標(biāo)準(zhǔn)，PCB布局的建議可使檢查工藝適當(dāng)簡化并更有效率。典型的印刷缺陷包括以下幾點：A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。

AOI隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動力成本的不斷提高，自動化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?；趯κ袌龊涂蛻舻纳钊肓私猓晒ν瞥隽薖CBA板級組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級封裝領(lǐng)域的自動光學(xué)檢查機（AOI）。

AOI 應(yīng)用軟件的開發(fā)是用戶使用后體現(xiàn)其效果的關(guān)鍵。大多 AOI 檢測系統(tǒng)采用了 PC 和 windows 操作系統(tǒng), 而 MVP 選擇了 LINUX和 UNIX 操作系統(tǒng), 以增強其軟件系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

自動光學(xué)檢測項目包括：

劃痕

結(jié)點

污點

開路或短路

焊料不足或過量

元件不正確

元件缺失

元件極性不正確

AOI是新興起的一種新型測試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測試設(shè)備。工業(yè)產(chǎn)品半成品及成品的光學(xué)檢查，是監(jiān)控生產(chǎn)制程質(zhì)量不可或缺的工作。

光學(xué)性能檢測主要的檢測項目包含以下幾點：折射率 色散及色散系數(shù) 雙折射及非常光折射率

反射和反射系數(shù) 全反射 吸收系數(shù) 散射等根據(jù)不同的檢測項目選擇不同的儀器進行檢測。