FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長及步值，實現(xiàn)自動測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標(biāo)曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M行量子效率測試的系統(tǒng)。

FE3000反射式膜厚量測儀特點：寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應(yīng)顯微鏡下的微距量測口徑。不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

半積分球。大塚電子獨有專利，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內(nèi)獨i家）；(2)多次激發(fā)修正。大塚電子獨有專利，i大程度降低樣品所反射的激發(fā)光再次照射樣品帶來的多次激發(fā), 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內(nèi)獨i家）；(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統(tǒng)（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質(zhì)光學(xué)窗口，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數(shù)量5個），尺寸直徑≤10mm

FE3000反射式膜厚量測儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。

1）石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于液體樣品測試（3個）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有專用的液體容器定位裝置，可實現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。