檢查半導(dǎo)體材料硅和鍺是不是達(dá)到了高純度的要求時，就要用到光太陽光譜譜分析．在歷史l上，光譜分析還幫助人們發(fā)現(xiàn)了許多新元素．例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線而被發(fā)現(xiàn)的．光譜分析對于研究天體的化學(xué)組成也很有用．十九世紀(jì)初，在研究太陽光譜時，發(fā)現(xiàn)它的連續(xù)光譜中有許多暗線。使用SPECTROCHECK的公司可以確保為其用戶提供經(jīng)過嚴(yán)格成分檢測的高質(zhì)量的金屬材料。

直讀光譜儀 FMXline

把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉(zhuǎn)變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當(dāng)從較高的能級躍遷到較低的能級時，原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來實現(xiàn)。

德國斯派克臺式直讀光譜儀 金屬光譜分析儀 SPECTRO

ICAL智能邏輯標(biāo)準(zhǔn)化

升級版的專有ICAL標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)可以有效校正儀器，漂移和光強(qiáng)變化。ICAL標(biāo)準(zhǔn)化實現(xiàn)單塊標(biāo)準(zhǔn)代替了傳統(tǒng)光譜儀的多塊標(biāo)準(zhǔn)試樣校準(zhǔn)過程，可以使每次用于標(biāo)準(zhǔn)化的時間節(jié)約30分鐘以上。

光學(xué)系統(tǒng)

SPECTROMAXx中獨特的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)部件有效融合，經(jīng)過嚴(yán)格密封，確保光室內(nèi)部一塵不染，雙光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置使波長范圍擴(kuò)展至140nm——670nm。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構(gòu)，光學(xué)系統(tǒng)的機(jī)械結(jié)構(gòu)異常堅固，同時減少了內(nèi)部空間體積。內(nèi)部恒溫、恒壓確保光學(xué)系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。而對于復(fù)雜基體分析如環(huán)境監(jiān)測分析，xSORT無需復(fù)雜的樣品前處理，即可取得同類設(shè)備無法取得的低的元素檢測下限。

德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12

SPECTROLAB所有性能優(yōu)勢：

超級靈活的元素選擇

摒棄了以往耗時，昂貴的硬件通道擴(kuò)展方式。大多數(shù)SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設(shè)置。可選的軟件擴(kuò)展設(shè)置使得用戶甚至可以不用準(zhǔn)備標(biāo)樣制作工作曲線。

超高靈敏度

利益于動態(tài)背景校正等新技術(shù)，檢測限達(dá)到新水平。SPECTROLAB可以準(zhǔn)確測定百分之一（PPM）水平的痕量元素含量。

超高速測量

SPECTROLAB的設(shè)計是以抓住每一個機(jī)會來滿足金屬分析對速度的需求。例如，高能等離子發(fā)生器光源配合的動態(tài)預(yù)然控制，實現(xiàn)縮短試樣分析時間。因而，瞬間切換到激發(fā)測量階段。增加單位時間樣品測試數(shù)量。在許多應(yīng)用中都可以實現(xiàn)超級短的分析時間。