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?如何選擇三坐標(biāo)測量機的探針
探針是三坐標(biāo)測量機的一部分,主要用來觸測工件表面,使得測頭的機械裝置移位,產(chǎn)生信號觸發(fā)并采集一個測量數(shù)據(jù)。一般的探針都是由一個桿和紅寶石球組成。
上海三坐標(biāo)測量機的探針有幾個主要專業(yè)術(shù)語:
1:有效工作長度 (EWL)
2:桿直徑
3:總長(指的是從探針后固定面到測尖中心的長度)
4:測針直徑
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?哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測
哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測
三坐標(biāo)檢驗適用范圍的原則,哪些案例不適合用三坐標(biāo)檢測:
1、調(diào)試調(diào)整中的粗調(diào)階段、用其他手段可以進(jìn)行直觀簡單粗調(diào)的。
2、使用其他手段在原理上的困難因素在三坐標(biāo)上同樣存在的。
3、零件形狀精度過低,由于三坐標(biāo)點測量原理(且不宜加大取點密度)會導(dǎo)致測量結(jié)果失去可信性的情況。
4、其他手段(含間接及近似手段)能夠達(dá)到檢測技術(shù)要求,且用通常手段檢驗時間低于三坐標(biāo)檢驗時間的5 倍的零件
1、調(diào)試調(diào)整中的粗調(diào)階段、用其他手段可以進(jìn)行直觀簡單粗調(diào)的。
2、使用其他手段在原理上的困難因素在三坐標(biāo)上同樣存在的。
3、零件形狀精度過低,由于三坐標(biāo)點測量原理(且不宜加大取點密度)會導(dǎo)致測量結(jié)果失去可信性的情況。
4、其他手段(含間接及近似手段)能夠達(dá)到檢測技術(shù)要求,且用通常手段檢驗時間低于三坐標(biāo)檢驗時間的5 倍的零件
怎樣選擇合適的三坐標(biāo)測頭
2.選用掃描測頭的場合
應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測量:掃描方式測量的主要優(yōu)點在于能高速的采集數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸及位置,更重要的是能用眾多的點來精q圓活塞等);也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件,而形狀誤差成為主要問題時的情況。測量:由于掃描測頭對離散點測量是勻速或恒測力采點,其測點精度可以更高。同時,掃描測頭可以直接判斷接觸點的法矢,對于要求嚴(yán)格定位、定向測量的場合,掃描測頭對離散點的測量也具有優(yōu)勢。對于未知曲面的掃描,亦即稱為數(shù)字化的場合下,掃描測頭顯示出了它的獨特優(yōu)勢:因為數(shù)字化工作方式時,需要大量的點,觸發(fā)式測頭的采點方式顯得太慢;由于是未知曲面,測量機運動的控制方式亦不一樣,即在“探索方式”下工作;只要設(shè)計合理并注意維護(hù),將三坐標(biāo)測量機放置在計量實驗室或隔溫柜內(nèi)對提高三坐標(biāo)測量機的精度與可靠性的好處比不良影響要大。測量機根據(jù)已運動的軌跡來計算下一步運動的軌跡、計算采點密度等。
在可以應(yīng)用接觸式測頭的情況下,慎選非接觸式測頭;
在只測尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測頭;
考慮成本又能滿足要求的情況下,盡量選接觸式觸發(fā)測頭;
對形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測頭;
掃描測頭應(yīng)當(dāng)可以對離散點進(jìn)行測量;考慮掃描測頭與觸發(fā)測頭的互換性(一般用通用測座來達(dá)到);
易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測量,可考慮采用非接觸式測頭;
要考慮軟件、附加硬件(如測頭控制器、電纜)的配套。