大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

用途：

高分子?化學工業(yè)領域

Emulsion（塗料?膠水）的分散?凝集控制、乳膠的表面改質(zhì)

高分子電解質(zhì)（聚乙烯磺酸鹽?聚碳酸等）功能性的研究、功能性納米粒子

紙?紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

食品工業(yè) 領域

Emulsion（食品?香料?醫(yī)療?化妝品）的分散?凝集控制、蛋白質(zhì)的功能性

脂質(zhì)體?囊泡的分散?凝集控制、界面活性剤（膠粒）的功能性

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現(xiàn)在，ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。

分子量測量原理：靜的光散射法（光子相關(guān)法）

靜的光散射法作為簡便的測量分子量的手法而被人們熟知。

測量原理指的是用光照射溶液中分子，根據(jù)所得的散射光的求出分子量。即，利用了大分子所得散射光強，小分子所得散射光弱的現(xiàn)象進行測量。

實際上，濃度不同，所得的散射光強度也不同。因此，要實測數(shù)點的不同濃度的溶液散射強度，并根據(jù)以下公式，橫軸設為濃度，縱軸設為散射強度的倒數(shù)，

Kc／R（θ）為plot。這被稱作Debye plot。

濃度為零，外插切片（c=0）的倒數(shù)，并求出分子量Mw，根據(jù)初期斜面求出第二維里系數(shù)A2。

分子量為大分子時，散射強度出現(xiàn)角度依存性，通過測量不同的散射角度（θ）的散射強度，可知出分子量的測量精度提高，及分子大范圍的指標的慣性半徑。

角度固定測量時，輸入推算的慣性半徑，并對角度依存測量進行相應的補正，便可提高分子量的測量精度。