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發(fā)布時(shí)間：2021-10-12 14:25

如何利用OTDR測(cè)試光纖的斷點(diǎn)

OTDR是利用光線在光纖中傳輸時(shí)的瑞利散射和菲涅爾反射所產(chǎn)生的背向散射而制成的精密的光電一體化儀表，它被廣泛應(yīng)用于光纜線路的維護(hù)、施工之中，可進(jìn)行光纖長(zhǎng)度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測(cè)量。

OTDR(光學(xué)時(shí)域反射技術(shù))的基本原理是利用分析光纖中后向散射光或前向散射光的方法測(cè)量因散射、吸收等原因產(chǎn)生的光纖傳輸損耗和各種結(jié)構(gòu)缺陷引起的結(jié)構(gòu)性損耗，當(dāng)光纖某一點(diǎn)受溫度或應(yīng)力作用時(shí)，該點(diǎn)的散射特性將發(fā)生變化，因此通過顯示損耗與光纖長(zhǎng)度的對(duì)應(yīng)關(guān)系來檢測(cè)外界信號(hào)分布于傳感光纖上的擾動(dòng)信息。擦拭布不算一個(gè)很貴的東西，相比施工人員現(xiàn)場(chǎng)重新檢查問題的成本來說。

基于光的時(shí)域反射，由于光纖本事缺陷（摻雜，不可能均勻），導(dǎo)致每一點(diǎn)都會(huì)有瑞利反射檢測(cè)這些反射信號(hào)，有斷點(diǎn)的地方反射異常強(qiáng)烈，還可以檢測(cè)光纖的長(zhǎng)度。

如何降低光纖熔接損耗?

挑選經(jīng)驗(yàn)豐富訓(xùn)練有素的光纖接續(xù)人員進(jìn)行接續(xù)現(xiàn)在熔接大多是熔接機(jī)自動(dòng)熔接，但接續(xù)人員的水平直接影響接續(xù)損耗的大小。接續(xù)人員應(yīng)嚴(yán)格按照光纖熔接工藝流程圖進(jìn)行接續(xù)，并且熔接過程中應(yīng)一邊熔接一邊用OTDR測(cè)試熔接點(diǎn)的接續(xù)損耗。不符合要求的應(yīng)重新熔接，對(duì)熔接損耗值較大的點(diǎn)，反復(fù)熔接次數(shù)以3～4次為宜，多根光纖熔接損耗都較大時(shí)，可剪除一段光纜重新開纜熔接。對(duì)低阻故障以及存在斷相故障的高阻故障，故障相測(cè)試波形與測(cè)試的電纜全長(zhǎng)就不一致，這樣就可以直接用低壓脈沖測(cè)試出故障距離。

新手使用光纖熔接機(jī)易犯的幾個(gè)錯(cuò)誤（5）

光纖過度彎曲：

所有的光纜都有自己的小彎曲半徑，因此，我們?cè)谶M(jìn)行光纜施工時(shí)，要注意不能超過光纜的低彎曲半徑，以避免損壞光纜及護(hù)套內(nèi)的光纖。

過度彎曲發(fā)生在光纜的膨脹圈(slack loop)過緊并被安置在過小的基座，手孔上。類似“雪鞋”的產(chǎn)品用于幫助光纜施工者避免架空膨脹圈過緊的問題。過彎曲還經(jīng)常發(fā)生在施工者采用老鼠耳或者扣條來固定架空光纜時(shí)。

過度彎曲也會(huì)發(fā)生在熔接盤中。一個(gè)通常的場(chǎng)景就是當(dāng)小的熔接盤和60mm的熔接套管配合使用時(shí)，而不是應(yīng)該的40mm套管。大的套管會(huì)太靠近熔接盤的邊緣，不給光纖留出足夠的彎曲半徑。

過度彎曲會(huì)帶來什么問題？使用不當(dāng)?shù)那懈罟ぞ撸汗饫w端面是否平滑對(duì)于熔接后的光纖的損耗具有重要影響。當(dāng)你用OTDR進(jìn)行測(cè)試時(shí)就能看到問題。過彎曲經(jīng)常只有在用1550nm或者1625nm波長(zhǎng)測(cè)試時(shí)才能發(fā)現(xiàn)。多數(shù)單模光纖工作在1310nm下，這個(gè)波長(zhǎng)對(duì)彎曲敏感度低一點(diǎn)。然而，今天更多的光纖系統(tǒng)應(yīng)用1550nm和1625nm波長(zhǎng)。這些波長(zhǎng)對(duì)光纖中的問題更加敏感。那些在1310nm下用OTDR看不出的問題到了這兩個(gè)波長(zhǎng)下可能就有很大的問題，而解決之道就是避免過度彎曲。

光纖彎曲半徑過大帶來信號(hào)衰減。