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雙頻激光干涉儀

雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發(fā)展而來的一種外差式干涉儀。

在激光器上，加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應,激光器產生f1和f2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路。在這方面要注意的是不要以高代價換來功能過多而又不合用的較復雜的機床測頭。一路經偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。

校準值比名義值小的原因：

在了解測頭校準的原理后，我們就很容易解釋測針校準值比名義值小的原因了。

1、觸發(fā)式測針在原理上相當于杠桿結構。觸測時，必須使測頭傳感器能夠觸發(fā)（相當于我們平常用的開關）才能發(fā)出信號。由于測針有一定的標準長度，所以在測針的紅寶石球接觸標準球后，還要運行一段距離，才能使傳感器觸發(fā)到信號，測針越長這段距離就越大。更換測針（不同的三坐標測量機測量軟件方法不同），因為測針長度是測頭自動校驗的重要參數，如果出現錯誤，會造成測針的非正常碰撞，輕者碰壞測針，重則造成測頭（傳感器）損壞。因此造成觸發(fā)信號的延遲，使擬合球的直徑小于紅寶石球直徑和標準球直徑之和，當測量控制柜中的軟件把擬合球的直徑減去標準球直徑（已輸入標準球的實際值）后，我們得到的校驗后的測針校驗直徑就比其名義值小。

在機測量零件

在大型模具產品中，有大量毛坯材料昂貴、加工周期長的零件，這類零件一旦報廢將損失慘重。因此，在加工過程中進行監(jiān)測以排除各種因素對尺寸精度的影響便十分重要。機床測頭系統(tǒng)提供了一種方便可靠的解決方案，不必在加工過程中多次將零件搬移到計量室，只需調用相應的在機測量循環(huán)，應用機床測頭系統(tǒng)，即可測出結果。刀具設定刀具對于數字化制造是至關重要的，刀具參數的獲取往往要耗費大量時間，而且機外對刀設備不能將跳動、主軸的熱膨脹等因素充分考慮在內。根據零件在機測量的不同需要，可以使用代碼導出的標準在機測量循環(huán)，也可以使用基于PC機的對話式在機測量軟件，還可以使用直接從CAD導入零件模型的自動在機測量軟件OMV（On Machine Verification）。大量應用實例表明，正確地使用機床測頭系統(tǒng)，有可能消除零件在加工中超差、報廢的現象。

球桿儀

基本介紹“干涉測量法”是一種利用波的干涉現象（常見的波有光波，無線電波或聲波）進行測量的一種方法。測量可能涉及對波本身的某些特性以及與波相互作用的材料的測量。此外，“干涉測量法”用于描述通過光波研究位移變化的技術。測針夾持座和測桿有一系列材料供選擇---鈦、碳化鎢、不銹鋼、陶瓷和碳纖維。在精密加工中廣泛采用這一位移干涉測量法來校準和控制機械臺運動。