芯片檢測顯微鏡的配置

芯片檢測顯微鏡配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場消色差物鏡、大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。適用于學(xué)校、科研、工廠等部門使用。

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芯片檢測顯微鏡——機構(gòu)機械載物臺

芯片檢測顯微鏡的機械載物臺可在XY方向進行平滑移動。由于這種機構(gòu)是內(nèi)置式設(shè)計，而不是附加而不是附加的，因而X向?qū)к壊粫怀鲚d物臺臺面，這種設(shè)計增大了載物臺上方的空間，使對標本操作變得更方便、快捷，同時，載物臺在X軸的移動也更加平滑和精密。載物臺表面光滑，使載玻片能夠更平滑、自如地移動。

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芯片檢測顯微鏡——芯片檢測

倒裝芯片封裝的不良狀況無損分析

在倒裝芯片的焊接中，組裝后的焊接部分和模塊無法用可見光檢查。但是如果使用近紅外線顯微鏡，則可以在不破壞封裝的前提下，透過硅觀察IC芯片內(nèi)部。只要置于顯微鏡下，就可以輕松進行不良狀況分析。對必需用FIB（Focused Ion Beam）處理位置的也很有效。

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