內(nèi)窺鏡的照明技術(shù)

目前市場上工業(yè)內(nèi)窺鏡的照明技術(shù)主要分為兩種︰前置光源和后置光源。

前置光源技術(shù)，光源通常直接裝在鏡頭上，例如采用貼片的方式，不用通過光纖或者光纖束傳遞光信號，目前國產(chǎn)內(nèi)窺鏡和部分進口內(nèi)窺鏡品牌大部分采用的是前置光源技術(shù)。這種光源技術(shù)，主機成本低，但是鏡頭成本較高，因為集成了光源的緣故，而且由于鏡頭直徑通常不足10毫米，狹小的空間限制了光源功率不可能太大，導(dǎo)致無法看清被檢對象或者成像清晰度受到一定影響。

后置光源技術(shù)，光源后置在主機里，通過成像光纖傳遞光信號，在鏡頭上設(shè)置有出光口達到照明的目的。這種光源照明技術(shù)，主機成本略高，鏡頭成本相對低一些，主要應(yīng)用于比較專屬的進口工業(yè)內(nèi)窺鏡品牌上。后置光源的照明方式，由于光源位于主機里，沒有空間上的限制，因此可以采用大功率光源，保證照明的亮度，從而保證了圖像清晰度。

工業(yè)內(nèi)窺鏡滿足各種測量需要

對工業(yè)內(nèi)窺鏡孔探圖像進行測量是特征提取的核心工作，是進行故障診斷的前提，傳統(tǒng)的手工法測量缺陷尺寸時容易出錯且工作效率較低.為了提高孔探檢測的效率和準確性,實際孔探檢測時，需要測量的對象往往是壓氣機葉片和渦輪葉片，這些零件常出現(xiàn)裂紋、掉塊和撓曲的損傷，為了對損傷進行評估，需要對缺陷進行準確的測量。

從孔探工作的工作效率、觀察效果、測量精度以及設(shè)備安全等諸多因素考慮，三維相位掃描測量技術(shù)是非常適用于發(fā)動機孔探工作的一項先進技術(shù)。一套完善的孔探設(shè)備應(yīng)當(dāng)支持三維相位掃描測量功能，并兼?zhèn)淦渌愋停ㄈ珉p物鏡測量、陰影測量、比較測量等)的測量功能，以滿足各種孔探環(huán)境下的測量需要。

工業(yè)內(nèi)窺鏡

無論是單物鏡陰影測量法還是雙物鏡測量法，都是基于二維畫面進行處理和計算的，并且變量參數(shù)（位移或夾角)少、三角幾何計算的數(shù)學(xué)模型單一。為保證測量精度就要有較大的放大倍數(shù)，為此測量鏡頭的視野和焦距范圍都偏小。需要首先使用視野范圍相對較廣、焦距范圍相對較大的觀察鏡頭尋找并發(fā)現(xiàn)缺陷之后，將探頭取出更換成測量鏡頭，然后再次穿入發(fā)動機尋找缺陷進行測量。由于這兩類測量鏡頭的視野很小( 50°或60°)、焦距較近，很難快速有效地再次尋找到并達到缺陷位置，甚至有可能找不到缺陷;即便到達缺陷所在的葉片位置，也有可能因為角度或視野的問題，無法完整的缺陷的圖像。