rets相位差光學(xué)材料量

產(chǎn)品特點(diǎn)：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)適合作為評(píng)估相位差的波長分散、自動(dòng)檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，展現(xiàn)任一個(gè)波長的相位差量測?？蛇x配傾斜式、旋轉(zhuǎn)式量測平臺(tái)，評(píng)估三次元折射率參數(shù)分析等眼簾角特性。共同量測樣品，從容架構(gòu)量測平臺(tái)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

測定haze補(bǔ)正用樣品（與被測定樣品相同haze特性AG-TAC）,取得其補(bǔ)正table. 反復(fù)性能。(保證值)是利用本裝置附屬的基準(zhǔn)樣本(偏光板)的測量結(jié)果（0.1s間隔 定點(diǎn)15回連續(xù)測量）。將粘貼面有漏出的樣品貼合與樣品治具上，反轉(zhuǎn)治具測定，玻璃上貼附樣品的場合，將超出部分的film定位與基準(zhǔn)面，只反轉(zhuǎn)樣品進(jìn)行測定。因本系統(tǒng)為精密光學(xué)測定裝置，作為設(shè)置場所，請考慮以下條件。

本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計(jì)測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進(jìn)行測定橢圓率，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進(jìn)而演算其吸收軸，光軸，相對(duì)角、RE的裝置。

  本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN,IPS,MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動(dòng)XY-stage以及自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個(gè)Sample stage。Calibration時(shí)，自動(dòng)set基準(zhǔn)sample。

  本軟件，通過自動(dòng)制御偏光三棱鏡單元和瞬間多通道測光檢出器以及自動(dòng)ＸＹ平臺(tái)來實(shí)施cellgap檢查每個(gè)樣品都備有檢查菜單，并且樣品可自動(dòng)運(yùn)輸，操作員只需選擇檢查菜單便可輕松完成的測定。