由中國72家鑄造協(xié)會(huì)/學(xué)會(huì)聯(lián)手打造的第十六屆中國國際鑄造博覽會(huì)The

16th China International Foundry Expo (metal China)于2018年5月16-19日在北京順義新國展博覽中心成功舉辦。展商和觀眾來自中國、德國、美國、巴西、俄羅斯、日本、印度、西班牙等80多個(gè)國際和地區(qū)，展商數(shù)量超過1300家，觀眾超10萬人次。本次展會(huì)得到同行業(yè)、學(xué)者及技術(shù)人員的高度評(píng)價(jià)。

鋼研納克在本博覽會(huì)上集中展示了SparkCCD

6000型全譜火花直讀光譜儀、CSONH氣體分析儀、Plasma 3000型雙向觀測全譜電感耦合等離子體光譜儀、力學(xué)試驗(yàn)機(jī)等分析儀器，吸引了國內(nèi)外眾多參展人員，受到、學(xué)者的一致好評(píng)。

直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？

1)系統(tǒng)誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測方法不一致，這樣檢測結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。

2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。

3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不準(zhǔn)確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。

直讀光譜儀

直讀光譜儀是一種精密的分析儀器，利用不同元素的原子被電極激發(fā)后會(huì)發(fā)出不同的特征光譜這一原理，對(duì)被測樣品的組成和含量進(jìn)行分析和測定。直讀光譜儀具有一次分析元素多、分析范圍廣、分析速度快、操作方便、檢測精度高的特點(diǎn)，在冶金鑄造、鋼鐵及有色金屬行業(yè)爐前快速分析中廣泛應(yīng)用，在汽車、航空航天、機(jī)電、機(jī)械、石油化工等各領(lǐng)域的金屬材料對(duì)其元素進(jìn)行的定量分析。需要指出的是，光譜定量分析會(huì)受人員、環(huán)境、儀器性能等多種因素的影響，從而使檢測結(jié)果有失準(zhǔn)確性，分析結(jié)果存在一定偏差。為提高檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，必須不斷地研究、分析、總結(jié)，采取有效的措施來提高直讀光譜儀檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。

光電光譜分析選用的分析線，必需符合下列要求

直讀光譜分析時(shí)，一般都采用內(nèi)標(biāo)法。因內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行分析時(shí)常采用多條分析線和一條內(nèi)標(biāo)線組成，常用試料中的基體元素為內(nèi)標(biāo)元素。組成的線對(duì)要求均稱，就是當(dāng)激發(fā)光源有波動(dòng)時(shí)，兩條線對(duì)的譜線強(qiáng)度雖有變化，但強(qiáng)度比或相對(duì)強(qiáng)度能保持不變。

如R表示強(qiáng)度比即        

R=I1/I0

I1為分析線的強(qiáng)度，Io為內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度，表明I1和Io同時(shí)變，而R則不受影響。R與含量C之間有線性關(guān)系。

在光電直讀光譜分析時(shí)，有很多分析通道，要安裝許多內(nèi)標(biāo)通道有困難，因此采用一個(gè)內(nèi)標(biāo)線。但有人認(rèn)為再要提高光電光譜分析的準(zhǔn)確度還得采用不同的內(nèi)標(biāo)線，這還有待于光電轉(zhuǎn)換元件的小型化來解決。

光電法時(shí)，有時(shí)還用內(nèi)標(biāo)線來控制曝光量，稱為自動(dòng)曝光，也就是樣品在曝光時(shí)，分析線和內(nèi)標(biāo)分別向各自積分電容充電，當(dāng)內(nèi)標(biāo)線的積分電容器充電達(dá)到某一預(yù)定的電壓時(shí)，自動(dòng)截止曝光。此時(shí)分析線的積分電容器充電達(dá)到的電壓即代表分析線的強(qiáng)度I，并且亦即代表分析線的強(qiáng)度比R(因?yàn)镽=I1/Io，而此時(shí)Io保持常數(shù))這個(gè)強(qiáng)度I或強(qiáng)度比R就由測光讀數(shù)所表示。

現(xiàn)在一般采用計(jì)時(shí)曝光法較為普遍。