AOI隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?；趯?duì)市場(chǎng)和客戶的深入了解，成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)（AOI）。

AOI 應(yīng)用軟件的開(kāi)發(fā)是用戶使用后體現(xiàn)其效果的關(guān)鍵。大多 AOI 檢測(cè)系統(tǒng)采用了 PC 和 windows 操作系統(tǒng), 而 MVP 選擇了 LINUX和 UNIX 操作系統(tǒng), 以增強(qiáng)其軟件系統(tǒng)的穩(wěn)定性。

AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，但發(fā)展迅速，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。工業(yè)產(chǎn)品半成品及成品的光學(xué)檢查，是監(jiān)控生產(chǎn)制程質(zhì)量不可或缺的工作。

光學(xué)性能檢測(cè)主要的檢測(cè)項(xiàng)目包含以下幾點(diǎn)：折射率 色散及色散系數(shù) 雙折射及非常光折射率

反射和反射系數(shù) 全反射 吸收系數(shù) 散射等根據(jù)不同的檢測(cè)項(xiàng)目選擇不同的儀器進(jìn)行檢測(cè)。

AOI為客戶提供專(zhuān)業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。當(dāng)前來(lái)說(shuō),爐前的AOI比爐后的AOI重要,但爐后的檢查特別是焊點(diǎn)類(lèi)不良的檢查是AOI的檢查的難點(diǎn),Teradyne的Optima7000系統(tǒng)就側(cè)重于爐后的檢測(cè)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。激光(Laser)光源是當(dāng)前的AXI檢測(cè)系統(tǒng)采用的光源,利用激光光源可以檢測(cè)出BGA封裝的內(nèi)部缺陷。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。