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一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測(cè)量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)
1.儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上。
2.鍍層厚度分析儀為精密儀器,建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。
3.鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場(chǎng)合隔離開來。
4.儀器適合在10~40℃(50~104℉)的環(huán)境溫度下操作使用,在0~50℃(32~122℉)的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間(非冷凝)。在操作過程中,環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。
5.儀器曝曬在陽(yáng)光下時(shí)溫度極易超過50℃。所以請(qǐng)不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器,以避免高溫對(duì)儀器造成損害。
6.為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器,請(qǐng)立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請(qǐng)技術(shù)人員整體檢查儀器。
7.鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場(chǎng)合。
8.不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會(huì)造成讀數(shù)錯(cuò)誤。
9.不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話,可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
江蘇一六儀器 X熒光光譜測(cè)厚儀
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
接收:即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列
技術(shù)參數(shù)
X射線裝置:W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管
準(zhǔn)直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 準(zhǔn)直器任意選擇或者任意切換
近測(cè)距光斑擴(kuò)散度:9%
測(cè)量距離:具有距離補(bǔ)償功能,可改變測(cè)量距離,能測(cè)量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級(jí)到90mm)
樣品觀察:1/2.5彩色CCD,變焦功能對(duì)焦方式高敏感鏡頭,手動(dòng)對(duì)焦
放大倍數(shù):光學(xué)38-46X,數(shù)字放大40-200倍
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜測(cè)厚儀
產(chǎn)品配置
X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為:X射線管,正比計(jì)數(shù)器﹨半導(dǎo)體探測(cè)器,高清攝像頭,高度激光,信號(hào)檢測(cè)電子電路。
性能指標(biāo)
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等
X射線管:管電壓50KV,管電流1mA
可測(cè)元素:CI~U
檢測(cè)器:正比計(jì)數(shù)管
樣品觀察:CCD攝像頭
測(cè)定軟件:薄膜FP法、檢量線法
Z軸程控移動(dòng)高度 20mm