微分筒端面與下刻度線的區(qū)別

如微分筒端面與下刻度線之間有一條上刻度線，測量結(jié)果應(yīng)為下刻度線的數(shù)值加上0.5毫米，再加上可動刻度的值。1、先讀固定刻度　2、再讀半刻度，若半刻度線已露出，記作 0.5mm；若半刻度線未露出，記作 0.0mm；3、再讀可動刻度（注意估讀）。記作 n×0.01mm；4、終讀數(shù)結(jié)果為固定刻度 半刻度 可動刻度 估由于螺旋測微器的讀數(shù)結(jié)果到以mm為單位千分位，故螺旋測微器又叫千分尺。

有些千分尺為了防止手溫使尺架膨脹引起微小的誤差

有些千分尺為了防止手溫使尺架膨脹引起微小的誤差，在尺架上裝有隔熱裝置。實(shí)驗(yàn)時應(yīng)手握隔熱裝置，而盡量少接觸尺架的金屬部分。使用千分尺測同一長度時，一般應(yīng)反復(fù)測量幾次和不同位置，取其平均值作為測量結(jié)果。在讀數(shù)時，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻線是否已經(jīng)露出。讀數(shù)時，千分位有一位估讀數(shù)字，不能隨便扔掉，即使固定刻度的零點(diǎn)正好與可動刻度的某一刻度線對齊，千分位上也應(yīng)讀取為“0”。當(dāng)小砧和測微螺桿并攏時，可動刻度的零點(diǎn)與固定刻度的零點(diǎn)不相重合，將出現(xiàn)零誤差，應(yīng)加以修正，即在后測長度的讀數(shù)上去掉零誤差的數(shù)值。

可動尺的零度刻線是否與套筒上的相一致

在使用之前需要檢查千分尺本身是否存在誤差，檢查的方法是小砧和測微螺桿之間不夾被測物體時，可動尺的零度刻線是否與套筒上的相一致，不同則代表千分尺本身就有誤差，需要調(diào)整，待調(diào)整好后，把被測物體放在小砧和測微螺桿之間，固定好之后，先讀千分尺的固定刻度即下面的數(shù)值 A，與固定刻度相對應(yīng)的上方就是半刻度B，確定好固定刻度的數(shù)值后，若半刻度線已經(jīng)露出，數(shù)值則記為0.5MM，如果半刻度的線還沒有露出，則代表數(shù)值沒有達(dá)到0.5MM，數(shù)值即為0MM,讀完固定刻度和半刻度之后，再看右側(cè)的可旋轉(zhuǎn)的可動刻度的數(shù)值，從下往上依次增加，固定刻度與半刻度之間的橫線所對應(yīng)的可動刻度的數(shù)值即為可動刻度數(shù)值C*0.01MM，后的準(zhǔn)確數(shù)值就是它們之間的各即固定刻度值A(chǔ) 半刻度值B 可動刻度值C*0.01。千分位的數(shù)值則需要估讀，即使為零也應(yīng)該有。

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程如下：

現(xiàn)代測量價值的游標(biāo)卡尺一般認(rèn)為是由法國人約尼爾·比爾發(fā)明的。他是一名數(shù)學(xué)家，在他的專著《新四分圓的結(jié)構(gòu)、利用及特性》中記述了游標(biāo)卡尺的結(jié)構(gòu)和原理，而他的名字Vernier變成了英文的游標(biāo)一詞沿用至今。1851年由美國Brown & Sharpe 公司將Nonuth 及 Vernier 兩個構(gòu)想制造出支游標(biāo)卡尺，后由德國Masuer兵工廠加以改良制造，是工程上應(yīng)用廣的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游標(biāo)卡尺。1856年日本也普及了游標(biāo)卡尺，游標(biāo)卡尺的制造技術(shù)逐漸更新迅速提高，使之成為了通用性的長度。19世紀(jì)中葉，美國機(jī)械工業(yè)快速發(fā)展，美國夏普機(jī)械有限公司創(chuàng)始人與1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游標(biāo)卡尺，其精度達(dá)到了0.001毫米。