大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來(lái)電咨詢！

測(cè)量示例：

SiO 2 SiN [FE-0002]的膜厚測(cè)量

半導(dǎo)體晶體管通過(guò)控制電流的導(dǎo)通狀態(tài)來(lái)發(fā)送信號(hào)，但是為了防止電流泄漏和另一個(gè)晶體管的電流流過(guò)任意路徑，有必要隔離晶體管，埋入絕緣膜。 SiO 2（二氧化硅）或SiN（氮化硅）可用于絕緣膜。 SiO 2用作絕緣膜，而SiN用作具有比SiO 2更高的介電常數(shù)的絕緣膜，或是作為通過(guò)CMP去除SiO 2的不必要的阻擋層。之后SiN也被去除。 為了絕緣膜的性能和精準(zhǔn)的工藝控制，有必要測(cè)量這些膜厚度。



 

膜厚儀測(cè)試時(shí)有關(guān)輻射安全注意事項(xiàng)

幅射安全方面膜厚儀由于使用X射線管而產(chǎn)生輻射。測(cè)量頭的設(shè)計(jì)完全符合國(guó)際X射線安全要求：　　·測(cè)量頭控制臺(tái)上的一個(gè)鑰匙開(kāi)關(guān)通過(guò)打開(kāi)或關(guān)閉X射線管上的高壓決定X幅射的產(chǎn)生與否；　　·一個(gè)多級(jí)故障自動(dòng)保險(xiǎn)互鎖系統(tǒng)可控制X幅射的產(chǎn)生，從而有效保護(hù)操作者的安全；　　·如果測(cè)量門沒(méi)有完全關(guān)閉，X幅射就不會(huì)進(jìn)入測(cè)量室；　　·足夠的遮罩用來(lái)減小外部的幅射量。

　膜厚儀廠家解釋凡其厚度與入射光波長(zhǎng)相比擬的并能引起干涉現(xiàn)象(相干光程小于相干長(zhǎng)度)的膜層為薄膜，其厚度遠(yuǎn)大于入射光波波長(zhǎng)的膜層稱之為厚膜。如今，微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗1氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個(gè)非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。

1.膜厚測(cè)試儀出現(xiàn)下列情況，必需重新校準(zhǔn)?！　　ば?zhǔn)時(shí)，輸入了一個(gè)錯(cuò)誤值；　　·操作錯(cuò)誤?！　?.在直接方式下，如果輸入了錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值，應(yīng)緊接著做一次測(cè)量，隨后再做一次校準(zhǔn)，即可獲取新值消除錯(cuò)誤值?！　?.每一組單元中，只能有一個(gè)校準(zhǔn)值。　　4.零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)都可以重復(fù)多次，以獲得更為精準(zhǔn)的校準(zhǔn)值，提高測(cè)量精度但此過(guò)程中一旦有過(guò)一次測(cè)量，則校準(zhǔn)過(guò)程便告結(jié)束。