蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

三軸聯(lián)動(dòng)與五軸聯(lián)動(dòng)

當(dāng)下個(gè)零件擺放到工作臺(tái)上，但其姿態(tài)方位與前一個(gè)零件不一致時(shí)，之前的測(cè)頭角度可能會(huì)不再適用。因此，在做批量測(cè)量時(shí)，我們對(duì)于零件的位置、姿態(tài)方位都有一定程度的要求。而對(duì)于五軸系統(tǒng)，這方面的要求會(huì)寬松得多，測(cè)頭的無級(jí)分度特性使得測(cè)頭能夠根據(jù)零件坐標(biāo)系的找正作出相應(yīng)調(diào)整，避免了出現(xiàn)測(cè)頭角度不適用的情形。

接觸式測(cè)頭與光學(xué)測(cè)頭

對(duì)于表面數(shù)字化，其目的是要獲取零件表面輪廓，這就需要大量獲取輪廓的空間點(diǎn)坐標(biāo)。而對(duì)于接觸式測(cè)頭來說，一個(gè)一個(gè)點(diǎn)逐次獲取的方式是無法勝任百萬數(shù)量級(jí)點(diǎn)數(shù)的要求的，哪怕是連續(xù)掃描測(cè)頭，也只是通過測(cè)頭不離開零件表面的方式來提高取點(diǎn)速度，本質(zhì)上還是單點(diǎn)采集。這類應(yīng)用當(dāng)中，線光源和面光源測(cè)頭就很好彌補(bǔ)了接觸式測(cè)頭的不足，線掃描測(cè)頭通過一條由若干點(diǎn)的激光在工件表面移動(dòng)，即可掃描出一片區(qū)域;而面拍照測(cè)頭則是通過一組編碼的光線柵格，一次性獲取一個(gè)特定大小區(qū)域內(nèi)的點(diǎn)云。

三坐標(biāo)測(cè)頭

光學(xué)測(cè)頭相比接觸式測(cè)頭還有另一方面的優(yōu)勢(shì)。接觸式測(cè)頭采點(diǎn)時(shí)，測(cè)頭記錄的是測(cè)球中心的空間坐標(biāo)，然后根據(jù)測(cè)球半徑來進(jìn)行補(bǔ)償，得出實(shí)際點(diǎn)的坐標(biāo)。但當(dāng)測(cè)量特定位置的三維曲線時(shí)，如果不按照測(cè)點(diǎn)的法線方向去采點(diǎn)，會(huì)存在半徑補(bǔ)償余弦誤差;而如果按照測(cè)點(diǎn)的法線方向去采點(diǎn)，又會(huì)產(chǎn)生實(shí)際測(cè)點(diǎn)位置出現(xiàn)偏差的情況。這種情形在測(cè)量透平葉片時(shí)尤為常見。