NDC同位素測量儀簡介

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同位素厚度測量儀，由1或3Ci的241Am射源和電離室組成。

為軋制和處理線提供穩(wěn)定和可信賴的厚度測量。

具有的獨特功能為：

1、1或3Ci射線源通常用于50ms或20ms響應。

2、三重保護罩和可靠的快門適用于惡劣的環(huán)境。每個快門均設計有失敗關閉功能和在全開或全關時的位置檢測(可選)。

3、低噪音和低通行線敏感度測量。

4、僅有一個可移動部件的非?？煽康膫鞲衅?。

測厚儀簡介

測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的射性厚度計；探測頭的櫥柜式設計使得操作員可以直接接觸任何傳感器元件并且減低了維修時間。有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

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渦流測厚儀簡介

渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦流所產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

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