210度原裝AD轉(zhuǎn)換器

北京啟爾特科技新到一批150度、175度、210度高溫AD轉(zhuǎn)換器,種類繁多，各種型號溫度檔都有，歡迎廣大石油測井單位用戶來電咨詢，提供具體參數(shù)要求，我司有專門的工程師提供選項參考。

采用雙積分法的A/D轉(zhuǎn)換器由電子開關(guān)、積分器、比較器和控制邏輯等部件組成。

基本原理是將輸入電壓變換成與其平均值成正比的時間間隔，再把此時雙積分式AD轉(zhuǎn)換器原理圖間間隔轉(zhuǎn)換成數(shù)字量，屬于間接轉(zhuǎn)換。 雙積分法A/D轉(zhuǎn)換的過程是:先將開關(guān)接通待轉(zhuǎn)換的模擬量Vi，Vi采樣輸入到積分器，積分器從零開始進(jìn)行固定時間T的正向積分，時間T到后，開關(guān)再接通與Vi極性相反的基準(zhǔn)電壓VREF，將VREF輸入到積分器，進(jìn)行反向積分，直到輸出為0V時停止積分。Vi越大，積分器輸出電壓越大，反向積分時間也越長。不過在工業(yè)控制系統(tǒng)中的許多場合，毫秒級的轉(zhuǎn)換時間已經(jīng)足足有余，雙積分型AD轉(zhuǎn)換器的優(yōu)點正好有了用武之地。計數(shù)器在反向積分時間內(nèi)所計的數(shù) 值，就是輸入模擬電壓Vi所對應(yīng)的數(shù)字量，實現(xiàn)了A/D轉(zhuǎn)換。 

210度貼片AD轉(zhuǎn)換器

如果在放大器前端使用誤差5%的電阻，則該誤差將會導(dǎo)致12 位A/D 無法正常工作。也就是說，A/D 的測量精度一定小于其轉(zhuǎn)換誤差、基準(zhǔn)電壓誤差與所有模擬放大器誤差的累計之和。雖然轉(zhuǎn)換精度會受到器件誤差的制約，但通過對每個系統(tǒng)單獨進(jìn)行定標(biāo)，也能夠得到較為滿意的輸出精度。通常的模數(shù)轉(zhuǎn)換器是將一個輸入電壓信號轉(zhuǎn)換為一個輸出的數(shù)字信號。如果使用定標(biāo)電壓作為標(biāo)準(zhǔn)輸入，且借助存儲在MCU 程序中的定標(biāo)電壓常數(shù)對所有輸入進(jìn)行糾正，則可以有效地提高轉(zhuǎn)換精度，但無論如何無法對溫漂或器件老化而帶來的影響進(jìn)行校正。

175度現(xiàn)貨AD轉(zhuǎn)換器

隨著科技的飛速發(fā)展、高分辨率的數(shù)?；旌想娐返膽?yīng)用不斷深入，電路設(shè)計日趨復(fù)雜，精度越來越高，所以AD轉(zhuǎn)換電路的設(shè)計就成了儀器儀表及各種測量控制系統(tǒng)的難點。通用陣列邏輯GAL(GenericArrayLogic)是新一代的可編程邏輯器件，是采用先進(jìn)的E2CMOS工藝制造的大規(guī)模集成電路，是新產(chǎn)品設(shè)計的理想器件。本系統(tǒng)來源于儀器儀表的溫控系統(tǒng)設(shè)計，采用、低溫漂的模擬、數(shù)字器件，輔以52系列單片機為控制器，以復(fù)雜可編程邏輯器件 CPLD （Comp lex Programmable Array Logic）為頻率測試的硬件平臺，實現(xiàn)了高分辨率、低線性誤差的AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計。通過本設(shè)計掌握、低漂移的AD轉(zhuǎn)換器的設(shè)計方法， CPLD的設(shè)計，以及52系列單片機的硬件設(shè)計及軟件編程。

進(jìn)口175度AD轉(zhuǎn)換器

逐次逼近型ADC：逐次逼近型ADC是另一種直接ADC，它也產(chǎn)生一系列比較電壓VR，但與并聯(lián)比較型ADC不同，它是逐個產(chǎn)生比較電壓，逐次與輸入電壓分別比較，以逐漸逼近的方式進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換的。如果跟隨器的帶寬很小，或者增加了低通濾波，都可能實現(xiàn)抗混疊濾波。逐次逼近型ADC每次轉(zhuǎn)換都要逐位比較，需要（n 1）個節(jié)拍脈沖才能完成，所以它比并聯(lián)比較型ADC的轉(zhuǎn)換速度慢，比雙分積型ADC要快得多，屬于中速ADC器件。另外位數(shù)多時，它需用的元器件比并聯(lián)比較型少得多，所以它是集成ADC中，應(yīng)用較廣的一種。