大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運(yùn)動。因此，當(dāng)光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動，小粒子浮動速度快，大粒子浮動速度慢。

通過光子相關(guān)法解析這種浮動，從而求出粒徑或粒度分布。

ELSZ-2000Z

測量原理 雷射都卜勒法（Laser Doppler）

光源 高功率、高穩(wěn)定性半導(dǎo)體鐳射

感光元件 高感度APD

樣品容器 標(biāo)準(zhǔn)樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器

溫度范圍 0 ~ 90℃ （具備梯度功能）

電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz

尺寸 380（W） × 600（D） × 210（H）mm

重量 約22kg