一六 熒光測(cè)厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物

一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測(cè)厚法

適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測(cè)量精度高。

2.渦流測(cè)厚法

適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種方法較磁性測(cè)厚法精度低。

3.超聲波測(cè)厚法

目前國(guó)內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。

4.電解測(cè)厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測(cè)量起來較其他幾種麻煩。

5.測(cè)厚法

此種儀器價(jià)格昂貴，適用于一些特殊場(chǎng)合。

一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動(dòng)，所以可對(duì)形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測(cè)試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動(dòng)，所以不可對(duì)凹面等無法直接接觸測(cè)試窗口的位置進(jìn)行定位并測(cè)試，但操作簡(jiǎn)單，造價(jià)相對(duì)低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測(cè)試復(fù)雜形狀樣品，同時(shí)也抬高了價(jià)格

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測(cè)厚儀

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀 

     江蘇一六儀器   能量色散X射線熒光光譜測(cè)厚儀 

X射線的產(chǎn)生利用X射線管(圖2)，施加高電壓以加速電子，使其沖撞金屬陽極(對(duì)陰極)從而產(chǎn)生X射線。從設(shè)計(jì)上分為橫窗型(side window type)和縱窗型(end window type)兩種X射線管，都是設(shè)計(jì)成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結(jié)構(gòu)。一六熒光測(cè)厚儀十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì)集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體元素分析范圍:氯(CI)-鈾(U)厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素厚度檢出限:0。

X射線窗口，一般使用的是鈹箔。陰極(也叫做:靶材)則多使用是鎢(W)、銠(Rh)、鉬(Mo)、鉻(Cr)等材料。這些靶材的使用是依據(jù)分析元素的不同而使用不同材質(zhì)。原則上分析目標(biāo)元素與靶材的材質(zhì)不同。