CT檢測應(yīng)用

工業(yè)CT與傳統(tǒng)的X射線探傷和超聲波探傷相比，具有空間分辨率高、無損檢測、速度快等特點(diǎn)，因而在工業(yè)產(chǎn)品的檢測中具有其他方法無可取代的作用。

對工件的CT掃描斷層圖或三維圖像進(jìn)行分析，CT檢測，能夠快速、準(zhǔn)確、直觀的檢測到產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷（缺陷類型、位置、尺寸等）。如裂紋、氣孔、疏松、夾雜等缺陷，檢測精度可達(dá)1um，CT檢測方案，同時給出鋼管的壁厚分析、同心度、單位長度的重量等；亦可用于發(fā)電設(shè)備的實(shí)時檢測。

CT檢測平板探測器

平板探測器通常用表面覆蓋數(shù)百微米的閃爍晶體（如CsI）的非晶態(tài)硅或非晶態(tài)硒做成。像素尺寸127 或200μm，平板尺寸大約45cm（18in）。讀出速度大約3～7.5幀/s。優(yōu)點(diǎn)是使用比較簡單，沒有圖像扭曲。圖像質(zhì)量接近于膠片照相，CT檢測公司，基本上可以作為圖像增強(qiáng)器的升級換代產(chǎn)品。主要缺點(diǎn)是表面覆蓋的閃爍晶體不能太厚，對高能X 射線探測效率低；難以解決散射和竄擾問題，使動態(tài)范圍減小。在較高能量應(yīng)用時，必須對電子電路進(jìn)行射線屏蔽。一般說使用在150kV以下的低能效果較好。

CT檢測發(fā)展

三代CT是單射線源，具有大扇角、寬明束、全包容被檢斷面的掃描方式。對應(yīng)寬扇束有幾個探測器，保證一次分度取得八個投影計(jì)數(shù)和1值，被檢物僅作M個分度旋轉(zhuǎn)運(yùn)動。第三代CT運(yùn)動單一、好控制、，理論上被檢物只需旋轉(zhuǎn)一周即可檢測一個斷面。

四代CT也是一種大扇角全包容、只有旋轉(zhuǎn)運(yùn)動的掃描方式，由相當(dāng)多的探測器形成固定圓環(huán)，僅由輻射源轉(zhuǎn)動實(shí)現(xiàn)掃描。其特點(diǎn)是掃描速度快、成本高，僅在CT上使用，在工業(yè)CT中一般不采用。

五代CT是一種多源多探測器，用于實(shí)時檢測與生產(chǎn)控制系統(tǒng)，其輻射源與探測器按120°分布，工件與輻射源到探測器間不作相對轉(zhuǎn)動，僅有管子沿軸向的快速分層運(yùn)動。

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