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3.3主要技術(shù)要求
3.3.1 動態(tài)參數(shù)測試單元技術(shù)要求
3.3.1.1 環(huán)境條件
1)海拔高度:海拔不超過1000m;
2)溫度:儲存環(huán)境溫度 -20℃~60℃;
3)工作環(huán)境溫度: -5℃~40℃;
4)濕度:20%RH 至 90%RH (無凝露,大功率IGBT測試儀廠家,濕球溫度計溫度: 40℃以下);
5)震動:抗能力按7級設(shè)防,地面抗震動能力≤0.5g;
6)防護:無較大灰塵,腐蝕或性氣體,導電粉塵等空氣污染的損害;
如何檢測元件有老化的現(xiàn)象?半導體元件有許多參數(shù)都很重要,有些參數(shù)如:放大倍率,觸發(fā)參數(shù),閂扣,保持參數(shù),崩潰電壓等,大功率IGBT測試儀現(xiàn)貨供應,是提供給工程師在設(shè)計電路時的依據(jù),在檢測元件是否有老化的現(xiàn)象時,僅須測量導通參數(shù)及漏電流二項即可。將量測的數(shù)據(jù)與其出廠規(guī)格相比較,大功率IGBT測試儀加工,就可判定元件的好壞或退化的百分比。IGBT靜態(tài)參數(shù)測試部分主要材料技術(shù)要求 1)閾值電壓測試電路 閾值電壓測試電路(僅示出IEC標準測試電路) 。何謂半導體元件的參數(shù)?對元件使用上有何重要性? 中大功率的元件僅在功能上的完好是不夠的,大功率IGBT測試儀,因其必須承受規(guī)格上的電壓與電流,在某條件下,承受度的數(shù)據(jù)便稱為此元件的參數(shù)。若元件的工作條件超過其參數(shù)數(shù)據(jù),元件可能會立刻燒毀或造成性的損壞。
1)可調(diào)充電電壓源
用來給電容器充電,實現(xiàn)連續(xù)可調(diào)的直流母線電壓,滿足動態(tài)測試、短路電流的測試需求。
?輸入電壓380V±10%
?頻率50HZ;
?輸出電壓500~1500V可調(diào)(可多個電源組成)
?輸出電流10A;
?電壓控制精度1%
?電壓調(diào)整率<0.1%;
?紋波電壓<1%;
?工作溫度室溫~40℃;
?保護有過壓、過流、短路保護功能。
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