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測(cè)試的IGBT參數(shù)包括:ICES(漏流)、BVCES(耐壓)、IGESF(正向門極漏流)、IGESR(反向門極漏流)、VGETH(門檻電壓/閾值)、VGEON(通態(tài)門極電壓)、VCESAT(飽和壓降)、ICON(通態(tài)集極漏流)、VF(二極管壓降)、GFS(跨導(dǎo))、rCE(導(dǎo)通電阻)等全直流參數(shù), 所有小電流指標(biāo)保證1%重復(fù)測(cè)試精度, 大電流指標(biāo)保證2%以內(nèi)重復(fù)測(cè)試精度。中大功率的元件僅在功能上的完好是不夠的,因其必須承受規(guī)格上的電壓與電流,在某條件下,承受度的數(shù)據(jù)便稱為此元件的參數(shù)。
半導(dǎo)體元件全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng),可以元件在真正工作狀態(tài)下的電流及電壓,變頻器用IGBT測(cè)試儀現(xiàn)貨供應(yīng),并測(cè)量重要參數(shù)的數(shù)據(jù),變頻器用IGBT測(cè)試儀廠家,再與原出廠指標(biāo)比較,由此來判定元件的好壞或退化的百分比。每個(gè)電流模塊,都具有獨(dú)立的供電系統(tǒng),以便在測(cè)試時(shí),提供內(nèi)部電路及電池組充電之用; 可選購?fù)獠扛邏耗K,執(zhí)行關(guān)閉狀態(tài)參數(shù)測(cè)試如:各項(xiàng)崩潰電壓與漏電流測(cè)量達(dá)2KV。3、集電極電壓:50~100V±3%±1V 100~500V±3%±5V 500V~1000V±3%±10V 4、柵極驅(qū)動(dòng)電流:滿足5A以下測(cè)試要求。
如何執(zhí)行導(dǎo)通參數(shù)與漏電流的量測(cè)?
?測(cè)試條件中待輸入的數(shù)字,必須依照元件生產(chǎn)廠所提供的規(guī)格來輸入,而測(cè)量結(jié)果,亦必須在其所規(guī)定的限額內(nèi),否則,變頻器用IGBT測(cè)試儀,便為不良品。
大功率I g b t模塊測(cè)試系統(tǒng)簡介
我公司所設(shè)計(jì)生產(chǎn)的半導(dǎo)體元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)具備下列測(cè)試能力:
☆可單機(jī)獨(dú)立操作,測(cè)試范圍達(dá)2000V及50A。
☆外接大電流擴(kuò)展裝置,檢測(cè)范圍可擴(kuò)展1600A。
測(cè)試參數(shù)多且完整、應(yīng)用領(lǐng)域更廣泛,但只要使用其基本的2項(xiàng)功能:「開啟」電流壓降,「關(guān)閉」電流的漏電流,變頻器用IGBT測(cè)試儀批發(fā),就可知道大功半導(dǎo)體有沒有老化的現(xiàn)象。
?可移動(dòng)型儀器,使用方便,測(cè)試簡單快速,立即提供測(cè)試結(jié)果與數(shù)值。
?適用的半導(dǎo)體元件種類多,尤其能測(cè)大功率元件。
?用戶能確實(shí)掌握新采購元件的質(zhì)量,避免用到瑕疵或品。
?完全由計(jì)算機(jī)控制、快速的設(shè)定參數(shù)。
?適用于實(shí)驗(yàn)室和老化篩選的測(cè)試。
?操作非常簡單、速度快。
?完全計(jì)算機(jī)自動(dòng)判斷、自動(dòng)比對(duì)。
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