對于液體介質(zhì)法，GJB 360B—2009對試驗設(shè)備的要求如下：

   ① 應(yīng)有兩個液槽，一個用于低溫，小型高低溫試驗箱，另一個用于高溫。試驗時，試驗樣品應(yīng)能方便地浸入，并能迅速從一個槽轉(zhuǎn)入另一個槽。在上述浸入與轉(zhuǎn)換時，立式高低溫試驗箱，液體不應(yīng)被攪動。

   ② 低溫槽中的液體溫度為?

   ③ 高溫槽中的液體溫度為?

   ④ 試驗用的液體，應(yīng)與試驗樣品生產(chǎn)使用的材料和保護層相適應(yīng)，一般用水。

高低溫濕熱試驗箱溫度系統(tǒng)分為加濕和除濕兩個子系統(tǒng)。加濕方式一般采用蒸汽加濕法，高低溫試驗箱，即將低壓蒸汽直接注入試驗空間加濕。這種加濕方法加濕能力，高低溫濕熱交變試驗箱，速度快，加濕控制靈敏，尤其在降溫時容易實現(xiàn)強制加濕。

除濕方式有兩種：機械制冷除濕和干燥除濕。機械制冷除濕的除濕原理是將空氣冷卻到溫度以下，使大于飽和含濕量的水汽凝結(jié)析出，這樣就降低了濕度。干燥器除濕是利用氣泵將試驗箱內(nèi)的空氣抽出，并將干燥的空氣注入，同時將濕空氣送入可循環(huán)利用的干燥進行干燥，干燥完后又送入試驗箱內(nèi)，如此反復(fù)循環(huán)進行除濕。

高低溫試驗機滿足標(biāo)準(zhǔn)：性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》GJB367.2-1987《通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411 濕熱試驗 GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗 GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗箱技術(shù)條件》

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