熱釋光探測器的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)

熱釋光探測器的基本依據(jù)是某些材料的晶體受輻射照射后具有能量累積儲(chǔ)存作用。當(dāng)加熱到一定溫度時(shí)又以發(fā)光的形式釋放能量，而且與受照射劑量成正比關(guān)系。

當(dāng)磷光體（晶體）受到電離輻照時(shí)，射線與晶體相互作用，產(chǎn)生電離和激發(fā)，使晶體價(jià)帶中的電子獲得足夠的能量游離出來，上升到導(dǎo)帶，在價(jià)帶中剩下空穴。被電離激發(fā)的電子空穴在亞穩(wěn)態(tài)能級分別被晶體中的缺陷所俘獲（激發(fā)），這些缺陷稱為“陷阱”（俘獲電子的缺陷）或“中心”（俘獲空穴的缺陷），統(tǒng)稱為“發(fā)光中心”。處于亞穩(wěn)態(tài)能級上的電子和空穴在無外源激發(fā)的環(huán)境下，可以長時(shí)間滯留在缺陷中。隨著時(shí)間的積累，輻射劑量增加，被缺陷俘獲的受電離激發(fā)的電子和空穴數(shù)量增加，所以在線性劑量范圍內(nèi)磷光體熱釋光的強(qiáng)度與所接受的輻射劑量成正比。

當(dāng)加熱磷光體時(shí)，GR200A維修，電子和空穴從發(fā)光中心中逸出，電子和空穴快速復(fù)合，或游弋經(jīng)導(dǎo)帶后與禁帶中的空穴復(fù)合。在上述幾種復(fù)合過程中，都以可見光或紫外光的形式釋放能量，這種現(xiàn)象稱為熱釋光。

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使用熱釋光劑量片時(shí)需要注意哪些？

1、測量后應(yīng)將探測器放在金屬盒里或金屬板上；

2、要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器，以免沾污。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除，切勿用擦洗再用；

3、熱釋光探測器要用清潔、光滑、不起毛紙包裝；

4、放置熱釋光探測器的器具要保持清潔，要用清潔的鑷子輕取探測器，切勿用手接觸探測器；

5、熱釋光探測器在照射后和經(jīng)過熱處理后盡量放在的熱釋光探測器低本底鉛室或其它低本底鉛室中保存。

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你對熱釋光劑量片了解多少？

對中子的響應(yīng)：對重粒子所致吸收劑量的響應(yīng)有LET依賴性，這有利于差出n、γ混合場中γ成分。

貯存信息的穩(wěn)定性：室溫下存放一個(gè)月無明顯減退，在50℃下存放一個(gè)月會(huì)減退約3%。

光照效應(yīng)：對室內(nèi)散射日光、白熾燈光、熒光燈無明顯響應(yīng)；對直射日光(紫外光)有響應(yīng)

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