近兩年IGBT測試儀持續(xù)火爆，新能源汽車，封裝用IGBT測試儀批發(fā)，軌道交通，封裝用IGBT測試儀加工，風力發(fā)電等等都需要大量的IGBT模塊，所以我們?nèi)A科智源推出了大功率IGBT測試儀，可以測試1200A，5000V以內(nèi)的IGBT模塊，基本可以涵蓋現(xiàn)階段的IGBT模塊的測試了，我們IGBT測試儀還可以在線檢測模塊的電性能參數(shù)，對一些檢修，維護領域的工作有比較好的幫助，目前國內(nèi)我們?nèi)A科智源不光是IGBT靜態(tài)測試儀，包括動態(tài)測試儀，與的設備也可以放在一起競爭了，而且我們不怕競爭，這對我們是一種促進。1有完備的安全控制單元，動態(tài)測試設備有傳感器來保證操作者安全，設備任何門被打開均能快速切斷高壓電源。

大功率半導體器件為何有老化的問題？

任何產(chǎn)品都有設計使用壽命，同一種產(chǎn)品不同的使用環(huán)境和是否得到相應的維護，延長產(chǎn)品使用壽命和設備良好運行具有極為重要。出廠調(diào)試結(jié)束、出廠前預驗收完成后，賣方將為每個柜子量身定做包裝柜，保證包裝堅固，能適應中國境內(nèi)公路、鐵路運輸，并兼顧設備在現(xiàn)場保存時間的要求。功率元件由于經(jīng)常有大電流往復的沖擊，對半導體結(jié)構(gòu)均具有一定的耗損性及破壞性，若其工作狀況又經(jīng)常在其安全工作區(qū)的邊緣，更會加速元件的老化程度，封裝用IGBT測試儀價格，故元件老化，封裝用IGBT測試儀，就如人的老化一樣是不可避免的問題。

測量目的：對模塊的電壓降參數(shù)進行檢測， 可判斷模塊是否處于正常狀態(tài)。因此，測量大電流情況下的各個模塊實際技術(shù)參數(shù)，進行跟蹤管理，可有效保障機車中間直流環(huán)節(jié)可靠運行。功率模塊的VCE-IC特性曲線會隨著器件使用年限的增加而變化，飽和壓降Vcesat會逐漸劣化。因此，定期檢測可預防發(fā)現(xiàn)功率模塊故障。且變流器由多個模塊組成，由于個體差異，大電流情況下的參數(shù)也會存在個體差異。因此，測量大電流情況下的各個模塊實際技術(shù)參數(shù)，進行跟蹤管理，可有效保障機車中間直流環(huán)節(jié)可靠運行。IGBT模塊VCE-IC特線（單管），Vcesat隨電流變大而增大。

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