低本底的探測原理

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探測原理：探測器頂端的閃爍體是由α閃爍物質(zhì)和β閃爍物質(zhì)壓制在的有機(jī)玻璃板上。由于α粒子和β射線進(jìn)入閃爍物質(zhì)時后，將全部能量損失在閃爍物質(zhì)上，引起閃爍發(fā)光，低本底測量儀，閃爍光子被光電倍增管接收并轉(zhuǎn)換產(chǎn)生電信號。電信號進(jìn)入電子線路，轉(zhuǎn)換成電脈沖信號，被記錄。每一個α粒子撞擊閃爍體后產(chǎn)生的光信號進(jìn)入電子線路整合后在顯示器上被記錄成一個計數(shù)。所以低本底αβ測量儀也被通俗叫做低本底αβ計數(shù)器。計數(shù)率與樣品中核素活度（發(fā)射的αβ粒子數(shù)量）成正比。

低本底測量

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低本底是指再被測性樣品中，除本實(shí)驗(yàn)感興趣的核素以外的其他因素（包括樣品的干擾核素）在輻射探測器中產(chǎn)生的信號。低本底測量是指在低本底條件下對樣品進(jìn)行測量，相應(yīng)使用的儀器稱為低本底探測器。

低本底探測器往往選用性雜質(zhì)少的材料或經(jīng)過純化的材料制作探測器及整個裝置。除α探測器外，低本底測量儀哪家好，低本底探測器周圍要適當(dāng)增加物質(zhì)屏蔽，以防止宇宙射線和周圍環(huán)境中的射線引起的本底。常用的屏蔽材料為鉛和鋼。對探測器和測量系統(tǒng)的工作條件也要做適當(dāng)?shù)倪x擇，以減少噪聲和外界電磁場的干擾等因素引進(jìn)的本底計數(shù)。

單路低本底α、β測量儀簡介

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技術(shù)性能

β效率本底：儀器對于90Sr-90Y β（活性區(qū)Φ20mm）源的2π探測效率比≥50%時，本底≤0.15cm-2min-1；

α效率本底：儀器對于239Puα（活性區(qū)Φ30mm）源的2π效率比≥80%時，本底≤0.005 cm-2min-1；

α/β交叉性能：α進(jìn)入β道<3%（對239Pu）；β進(jìn)入α道<0.5%（對于90Sr-90Y）；

α/β交叉性能：β進(jìn)入α道<0.5%（對于90Sr-90Y）；

效率穩(wěn)定性：儀器連續(xù)通電8小時以上，各路探測器效率變化小于±5%；

本底穩(wěn)定性：在1000min的測量時間內(nèi)，本底計數(shù)變化在（Nb±3σ）的范圍內(nèi)，其中Nb 為本底計數(shù)的平均值，σ為本底計數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差；

絕緣電阻：≥2兆歐姆；

耐壓絕緣度：＞1500V；

使用環(huán)境

電源電壓：交流220V±10%，50HZ，功耗≤20W。

環(huán)境溫度：5～40℃

相對濕度：＜90%。

尺寸重量：320mm×245mm×630mm，總重量約200kg。

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