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一六儀器 測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
XTU-A、XTU-50A:五金產(chǎn)品、緊固件、汽車配件、衛(wèi)浴等,測(cè)量面積大于?0.2mm的產(chǎn)品
?XTU-BL:主要針對(duì)線路板等大平面,但是需要測(cè)試?0.1mm以下,且求購(gòu)儀器預(yù)算較低的客戶。
?XTU-50B、XTU-4C:可測(cè)試小至?0.05mm測(cè)量面積,且搭載的精密移動(dòng)平臺(tái)和變焦鏡頭(XTU全系列都含有)能滿足各種需求。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
電鍍液測(cè)量杯整套含兩個(gè)測(cè)量杯,可用于多品牌X-RAY測(cè)厚儀上使用,高純?cè)乇镜滋岣邷y(cè)量精度和檢出限。電鍍液測(cè)試樣品杯,嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理,用來(lái)測(cè)試溶液中金屬離子的濃度;使用方便簡(jiǎn)捷,無(wú)污染。
測(cè)試膜,又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測(cè)試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測(cè)膜,光譜儀樣品薄膜;是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷,無(wú)污染的測(cè)試用樣品薄膜,廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們的研發(fā)團(tuán)隊(duì)具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作,溫州測(cè)厚儀,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。
一. 磁吸力測(cè)量原理鍍層厚度分析儀
長(zhǎng)久磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這一原理制成測(cè)厚儀,只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,就可進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,鍍層分析儀,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)完成這一記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、堅(jiān)固耐用、不用電源,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),價(jià)格也較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。
企業(yè): 江蘇一六儀器有限公司
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