X射線熒光的基本原理

一六儀器X射線熒光測厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證

江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析，歡迎來電咨詢！

當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

X射線的激發(fā)

   如果要得到某元素的特征X射線，需要對元素原子內(nèi)層電子進(jìn)行激發(fā)，使得內(nèi)層電子獲得一定能量，能夠脫離原子核的束縛，煙臺測厚儀，從而在內(nèi)層軌道形成電子空穴，鍍層測厚儀，當(dāng)較高能級電子填補(bǔ)這一空穴時，鍍層膜厚儀，才會發(fā)射一定能量的特征X射線，這個過程就是X射線的激發(fā)。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。

影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些

     影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些？生產(chǎn)產(chǎn)品過程中，可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差，可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品，而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見，也是需要注意的一個點(diǎn)。因此我們也就得對影響涂層測厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。

   (1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，熒光測厚儀，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時，選擇的基體的表面也必須是luo露的、光滑的。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀，穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì)，多元EFP算法，簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

涂層測厚儀操作規(guī)程有哪些

  我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問題，甚至嚴(yán)重的可能會對自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來了解下先：

二、 操作流程圖

  開啟儀器 —— 校準(zhǔn)儀器 —— 進(jìn)行測量 —— 關(guān)閉儀器

  三、操作步驟

  基本測量步驟

  1. 準(zhǔn)備好待測工件；

  2. 將測頭插頭插入主機(jī)的測頭插座中；

  3.  儀器開機(jī)；

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