數(shù)字電路高溫老煉測試系統(tǒng)是一種用于數(shù)字電路老化篩選的**試驗設備，它可實現(xiàn)在動態(tài)老煉過程中對器件進行功能測試。首先概括介紹了可靠性篩選試驗、器件高溫老煉原理和方法等基礎知識，并在闡述數(shù)字電路動態(tài)功率老煉和在線功能測試基本原理的基礎上，對該系統(tǒng)的硬件組成、工作原理、結(jié)構(gòu)特征、技術(shù)指標等方面做了介紹。 

將重點放在系統(tǒng)軟件的開發(fā)和設計上。對用戶需求和軟件設計要求分析后，首先根據(jù)系統(tǒng)功能對軟件進行總體設計，確定了兩個主功能模塊：功率老煉模塊、功能測試模塊和三個輔助模塊：工作電壓控制模塊、測試器件數(shù)據(jù)庫管理模塊、結(jié)果處理模塊，并將主模塊細分出若干子功能模塊。然后結(jié)合設計語言——Delphi的特點，進一步詳細論述了各功能模塊的設計和軟件實現(xiàn)，并給出相應的程序?qū)崿F(xiàn)界面。 后總結(jié)了該系統(tǒng)軟件的特點，并提出了軟件進一步完善的方案。

質(zhì)量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以說是IC 產(chǎn)品的生命，好的品質(zhì)，長久的耐力往往就是一顆IC產(chǎn)品的競爭力所在。在做產(chǎn)品驗證時我們往往會遇到三個問題，驗證什么，如何去驗證，哪里去驗證，這就是what， how ， where 的問題了。解決了這三個問題，質(zhì)量和可靠性就有了保證，制造商才可以大量地將產(chǎn)品推向市場，客戶才可以放心地使用產(chǎn)品。現(xiàn)將目前較為流行的測試方法加以簡單歸類和闡述，力求達到拋磚引玉的作用。

質(zhì)量（Quality） 就是產(chǎn)品性能的測量，它回答了一個產(chǎn)品是否合乎規(guī)格（SPEC）的要求，是否符合各項性能指標的問題；可靠性（Reliability）則是對產(chǎn)品耐久力的測量，它回答了一個產(chǎn)品生命周期有多長，簡單說，它能用多久的問題。所以說質(zhì)量（Quality）解決的是現(xiàn)階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。知道了兩者的區(qū)別，我們發(fā)現(xiàn)，Quality 的問題解決方法往往比較直接，設計和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來后，通過簡單的測試，就可以知道產(chǎn)品的性能是否達到SPEC 的要求，這種測試在IC的設計和制造單位就可以進行。相對而言，Reliability 的問題似乎就變的十分棘手，這個產(chǎn)品能用多久，電機驅(qū)動批發(fā)，who knows? 誰會能保證今天產(chǎn)品能用，明天就一定能用？為了解決這個問題，電機驅(qū)動公司，人們制定了各種各樣的標準.

隨著深亞微米CMOS工藝的發(fā)展，工藝尺寸的縮小使模擬電路的設計變得更加復雜，盡可能采用數(shù)字電路代替模擬電路成為發(fā)展的趨勢。鎖相環(huán)作為時鐘產(chǎn)生電路是射頻通信系統(tǒng)中的關(guān)鍵模塊，其中全數(shù)字鎖相環(huán)具有良好的集成性、可移植性和可編程性，以及能夠?qū)崿F(xiàn)較好的相位噪聲指標等優(yōu)勢，得到了越來越廣泛的研究和發(fā)展。本文著重于2.4GHz CMOS全數(shù)字鎖相環(huán)的研究與設計，主要工作包括:

1)首先分析并推導了全數(shù)字鎖相環(huán)的主要性能指標，接著分析了I型和II型全數(shù)字鎖相環(huán)的原理和結(jié)構(gòu)特點，并分析了環(huán)路參數(shù)對整個環(huán)路特性與穩(wěn)定性的影響。

2)提出一種用于時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(Time-to-Digital Converter，TDC)的互補比較器的結(jié)構(gòu)，在傳統(tǒng)比較器結(jié)構(gòu)的基礎上，疊加一個與之互補的比較器，能夠消除輸出波形的毛刺，降低輸入失調(diào)電壓，提高比較器的工作速度，進而改善比較器的精度。

3)提出一種可重構(gòu)數(shù)字濾波器(Digital Loop Filter，電機驅(qū)動哪家好，DLF)，將DLF的參數(shù)KP、KI做成芯片外的控制端口，電機驅(qū)動，通過片外手動調(diào)節(jié)來改變芯片內(nèi)部的參數(shù)，可以改變?nèi)珨?shù)字鎖相環(huán)的帶寬，開環(huán)和閉環(huán)響應，以及幅度響應等，終能夠方便地在片外調(diào)節(jié)，使環(huán)路達到鎖定狀態(tài)。

4)分析和設計了一款數(shù)控振蕩器(Digitally Controlled Oscillator，DCO)，采用CMOS交叉耦合LC振蕩器，包括粗調(diào)、中調(diào)和精調(diào)三個電容陣列和ΔΣ調(diào)制器。其中，粗調(diào)單元采用MIM電容，中調(diào)和精調(diào)單元采用兩對反向連接的PMOS對管構(gòu)成MOS電容，本文DCO的增益為300kHz左右，使用ΔΣ調(diào)制器后，DCO的分辨率可以達到5kHz左右。