X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產(chǎn)生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，測厚儀廠家，使其可以轟擊出位于元素原子內(nèi)層中的電子。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當(dāng)X射線激發(fā)出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內(nèi)層電子激發(fā)態(tài)從而形成空穴并引起電子的躍遷，測厚儀，這個值是吸收限，涂層測厚儀，相當(dāng)于內(nèi)層電子的功函數(shù)。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發(fā)原子內(nèi)層電子并產(chǎn)生特征X射線。

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測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

 測量注意事項(xiàng)：1.測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

2.測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

一六儀器_光譜測厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家一六儀器一liu品質(zhì)，可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘，多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定，歡迎來電咨詢!

常見幾種測厚儀的工作原理是什么：

2、測厚儀原理--X射線測厚儀

     X射線測厚儀：此類測厚儀利用的是當(dāng)X射線穿透被測材料時，X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。

     3、測厚儀原理--超聲波測厚儀

     超聲波測厚儀：這種測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射的原理來對物體厚度進(jìn)行測量的，熒光測厚儀，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖會發(fā)生反射而返回探頭，通過準(zhǔn)確測量超聲波在材料中傳播的時間，來計算被測材料的厚度。

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