一六儀器 **測厚儀 多道脈沖分析采集，先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件，LED和照明，家用電器，通訊，汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

上照式：通常都有Z軸可移動，所以可對形狀復(fù)雜的樣品（如凹面內(nèi)）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內(nèi)的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎(chǔ)上配備了可變焦裝置，搭配先進(jìn)的算法，可定位到80mm以內(nèi)的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進(jìn)行定位并測試，但操作簡單，造價相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復(fù)雜形狀樣品，光譜測厚儀，同時也抬高了價格

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們**的研發(fā)團(tuán)隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗(yàn)，經(jīng)與海內(nèi)外多名通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

      X射線熒光測厚儀操作注意事項：

測厚儀操作時候需要注意的：

技術(shù)指標(biāo)：

1 分析元素范圍：Cl（17）-U（92）

2 同時可分析多達(dá)5層鍍層以上

3 分析厚度檢出限高達(dá)0.01μm

4 多次測量重復(fù)性高可達(dá)0.01μm

5測量時間：5s-300s

6 計數(shù)率：0-8000cps

測厚儀操作流程

打開儀器開關(guān)----在電腦上開啟軟件-------開高壓鑰匙-------聯(lián)機(jī)------預(yù)熱-----峰位校正------新建程式------選擇相應(yīng)的程式-----測試樣品----出報告

   江蘇一六儀器有限公司  **鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較，被測元素的特征X射線熒光強(qiáng)度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關(guān)，而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進(jìn)行特別的化學(xué)處理、快速，方便，測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關(guān)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。是目前應(yīng)用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實(shí)現(xiàn)多鍍層同時分析等特點(diǎn)。

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