【介紹老化房電子負(fù)載的特點(diǎn)】

在電路中，負(fù)載是指用來(lái)吸收電源供應(yīng)器輸出的電能量的裝置，它將電源供應(yīng)器輸出的電能量吸收并轉(zhuǎn)化為其他形式的能量?jī)?chǔ)存或消耗掉。我們通常采用電阻、電容、電感等或它們的串并聯(lián)組合，作為負(fù)載模擬真實(shí)的負(fù)載情況；進(jìn)行電源設(shè)備的性能實(shí)驗(yàn)。

電子負(fù)載是利用電子元件吸收電能并將其消耗的一種負(fù)載。電子元件一般為功率場(chǎng)效應(yīng)管（PowerMOS）、絕緣柵雙極型晶體管（IGBT）等功率半導(dǎo)體器件。

由于采用了功率半導(dǎo)體器件替代電阻等作為電能消耗的載體，使得負(fù)載的調(diào)節(jié)和控制易于實(shí)現(xiàn)，能達(dá)到很高的調(diào)節(jié)精度和穩(wěn)定性。同時(shí)通過(guò)靈活多樣的調(diào)節(jié)和控制方法，不僅可以模擬實(shí)際的負(fù)載情況，還可以模擬一些特殊的負(fù)載波形曲線，測(cè)試電源設(shè)備的動(dòng)態(tài)和瞬態(tài)特性。這是電阻等負(fù)載形式所無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。

負(fù)載效應(yīng)測(cè)試

　　負(fù)載效應(yīng)是一項(xiàng)靜態(tài)的性能測(cè)試，KPEL-M系列低電壓高電流直流電子負(fù)載，為被測(cè)電源，在預(yù)定負(fù)載變化條件下，輸出保持穩(wěn)定的能力.電子負(fù)載提供創(chuàng)新的負(fù)載效應(yīng)測(cè)試功能:

　　負(fù)載效應(yīng)測(cè)試過(guò)程中，連接線的影響量非常顯著，為補(bǔ)償連接線的影響，建議用戶使能電子負(fù)載的遠(yuǎn)端補(bǔ)償功能.

PARD測(cè)試

　　PARD是在其它參數(shù)恒定的條件下，在規(guī)定帶寬內(nèi)直流輸出電壓對(duì)其平均值的周期性和隨機(jī)性偏離，PARD用有效值或峰峰值度量，通常規(guī)定帶寬為20Hz~20MHz.至于采用有效值還是峰峰值，則要看使用場(chǎng)合，峰峰值度量能提供幅度，短持續(xù)時(shí)間尖峰的信息，而有效值則有利于確定預(yù)期的信噪比.

　　電子負(fù)載提供創(chuàng)新的實(shí)時(shí)Vpp，Ipp顯示，這是峰峰值度量的PARD，其帶寬也受限于采樣頻率(500KHz)，因此，這與一般意義上的PARD有一定出入，如果被測(cè)電源需要檢測(cè)更高頻率的PARD，就必須借助更高帶寬的示波器.如果需要檢測(cè)PARD有效值，就必須借助高帶寬的真有效值電壓表.

恒阻電路恒阻功能，在有些數(shù)控電子負(fù)載中并不設(shè)計(jì)專(zhuān)用電路，而是在恒流電路的基礎(chǔ)上通過(guò) MCU  檢測(cè)到的輸入電壓來(lái)計(jì)算電流，達(dá)到恒阻功能的目的。

比如要恒定電阻為 10 歐時(shí)，MCU 檢測(cè)到輸入電壓為 20V，那么會(huì)控制輸出電流為 2A。

但這種方法響應(yīng)較慢，只適用于輸入變化較慢，且要求不高的場(chǎng)合。**的恒阻電子負(fù)載都是由硬件實(shí)現(xiàn)的。

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