隱身材料反射率的測試方法主要包括雷達(dá)散射截面(RCS)法和弓形法。我國包括航空、航天、兵器、船舶等多家科研院所以及多所高校都已經(jīng)建立隱身材料反射率測試系統(tǒng)。目前，隱身材料反射率測試系統(tǒng)是實驗室對隱身材料性能評價最直接有效的方法，可以及時地對隱身材料進(jìn)行性能測試，蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)，對于隱身材料的研制發(fā)揮著重要作用

為保證隱身材料測試系統(tǒng)的測量準(zhǔn)確性，需要定期對測試系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。GJB2038A-2011中規(guī)定：隱身材料反射率測試系統(tǒng)的各個組件需要進(jìn)行校準(zhǔn)或者檢定，蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)，如對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行檢定，蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)，以確保測試準(zhǔn)確性。但由于隱身材料測試系統(tǒng)組件較多，測試過程復(fù)雜，僅對各組件進(jìn)行校準(zhǔn)和檢定并不能確保整個測試過程的準(zhǔn)確性，并且檢定過程復(fù)雜。而對整個測試系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)，既能確保系統(tǒng)的測試準(zhǔn)確性，而且校準(zhǔn)過程簡單方便。 我們在考慮產(chǎn)品的適用范圍方面增加了對鏡頭透過率測量的考慮，使該設(shè)備具有更深的使用范圍。蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)

反射率是不透明礦物最重要的光學(xué)性質(zhì)，是鑒定礦物的主要光學(xué)常數(shù)。其測定方法一般有光電學(xué)方法（光電光度法）和光學(xué)方法（視測光度法和簡易比較法）。光電學(xué)方法（光電法或光電光度法）是利用光電效應(yīng)的原理，即利用光電元件所產(chǎn)生的光電流與其受照光強(qiáng)成正比的原理來測定礦物反射率。其方法是在同一條件下，分別測取“標(biāo)準(zhǔn)”與欲測礦物的光電流強(qiáng)度，從而根據(jù)已知反射率的“標(biāo)準(zhǔn)”計算出欲測礦物的反射率。測反射率的光電裝置，按所采用光電元件種類可分為光電池、光電管和光電倍增管顯微光度計。前兩種由于其靈敏度及準(zhǔn)確性差而被淘汰；光電倍增管顯微光度計其靈敏度高，能測直徑小至0.5 μm面積的光強(qiáng)。所以被國際礦相學(xué)**會規(guī)定為測定反射率的標(biāo)準(zhǔn)儀器。蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)當(dāng)一束平行的入射光線射到粗糙的表面時，表面會把光線向著四面八方反射，所以入射線雖然互相平行。

精度和誤差是相對的概念。誤差是不準(zhǔn)確、不精確的意思，即指測量結(jié)果偏離真值的程度。由于誤差分系統(tǒng)誤差和隨機(jī)誤差，因此籠統(tǒng)的精度概念已不能反映上述誤差的差異，需要引出如下概念。

1、精密度

精密度是指在相同條件下，多次測量所得數(shù)值的一致程度。反映測量結(jié)果中隨機(jī)誤差的影響程度。若隨機(jī)  誤差小，則精密度高。

2、正確度

正確度是指測量結(jié)果與真值的接近程度。反映測量結(jié)果中系統(tǒng)誤差的影響程度，理論上可用修正值來消除。系統(tǒng)誤差越小，則正確度越高。

3．精確度（準(zhǔn)確度）

精確度是指測量結(jié)果的一致性及與真值的接近程度。綜合反映測量結(jié)果中隨機(jī)誤差和一般來說，精密度高而正確度不一定高；反之亦然。但精確度高則精密度和正確度都高。如圖

所示，以射擊打靶為例，圖3-8(a)表示隨機(jī)誤差小而系統(tǒng)誤差大，即精密度高而正確度低；圖3-8(b)表示系統(tǒng)誤差小而隨機(jī)誤差大，即正確度高而精密度低；圖3-8(c)表示隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差都小，即精確度高。

使用方法:

1、把探頭與電控箱連接，同時接上電源，開機(jī)予預(yù)熱15-20分鐘。此時應(yīng)把探頭放在黑色標(biāo)準(zhǔn)板上為佳。

校零:把探頭放在黑色標(biāo)準(zhǔn)板上，調(diào)整主機(jī)的校正旋鈕，使主機(jī)數(shù)字顯示為00.0，允許變動土0.1。

3、校正標(biāo)準(zhǔn)值:把探頭放在白色標(biāo)準(zhǔn)板上，調(diào)整主機(jī)的校正旋鈕，使主機(jī)顯示的數(shù)值與白色標(biāo)準(zhǔn)板的標(biāo)定值一致，允許變動土0.1。反復(fù)2-3條幾次，使主機(jī)顯示的數(shù)值滿足校零、校正的要求。(注:標(biāo)準(zhǔn)板值為小數(shù)點后兩位，校正時，請用戶自行四舍五入保留一位小數(shù)。)4、測量RB值:把探頭移至放有試樣的黑色工作陶瓷板上，顯示器所顯示的數(shù)值即為RB值(或參照有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行)。

5、測量Rw值:把探頭移至放有試樣的白色工作陶瓷板上，顯示器所顯示的數(shù)值即為Rw

值(或參照有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行)。

6、計算求得對比率RB/Rw值。 可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

實用新型內(nèi)容本實用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中后視鏡反射率測試系統(tǒng)所存在的缺點，提供一種能同時測量后視鏡晝間模式和夜間模式的反射率，測量快捷、準(zhǔn)確并可實現(xiàn)測量結(jié)果的儲存、直讀的后視鏡反射率測試系統(tǒng)。為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用的技術(shù)方案是:一種后視鏡反射率測試系統(tǒng)，包括光學(xué)測量裝置和智能儀表，所述的光學(xué)測量裝置包括依次通過光路相互連接的標(biāo)準(zhǔn)光源、平行光管、光積分球以及光電***；所述的智能儀表包括相互連接的中央處理器、控制面板以及顯示屏，該中央處理器通過A/D轉(zhuǎn)換電路與所述的光電***相連接；所述的光積分球上設(shè)有一光線入射口，所述平行光管的出光口與所述光線入射口通過被測件表面的入射光線和反射光線所形成的光路相連通。 漫反射(diffuse reflectance) 測量在提取樣品組成和結(jié)構(gòu)信息方面提供了一個直接可靠的分析手段。蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)

卓立漢光的漫反射測量系統(tǒng)采用單色光搭配積分球，同時提供粉末樣品專用夾具。蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)

為了提高國家計量技術(shù)法規(guī)的規(guī)范性、適用性和可操作性，10月30日，全國新材料與納米計量技術(shù)**會發(fā)布了《隱身材料反射率測試系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范》征求意見稿，并面向全國有關(guān)單位征求意見。隱身反射率是衡量隱身材料性能的重要指標(biāo)，反射率可以直觀地表達(dá)出隱身材料對雷達(dá)信號的反射性能。因此在隱身材料研制與生產(chǎn)階段，需要實時對隱身材料進(jìn)行反射率測試。通過考察隱身材料的反射率性能，對隱身材料的配比組成與結(jié)構(gòu)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，保障隱身材料在武器裝備上的應(yīng)用。蘇州進(jìn)口反射率測試系統(tǒng)