假設(shè)金屬探測器下面有一個(gè)金屬物體，金屬探測器，脈沖將在物體內(nèi)部形成一個(gè)反向磁場。當(dāng)脈沖產(chǎn)生的磁場衰減并構(gòu)成反射脈沖時(shí)，策略對象產(chǎn)生的磁場可以延長反射脈沖從衰減到消失的時(shí)間。這個(gè)過程的原理有點(diǎn)類似于回聲現(xiàn)象。在金屬探測器中，由策略對象產(chǎn)生的磁場增強(qiáng)了反射脈沖的“回聲”，使其持續(xù)時(shí)間比沒有“回聲”時(shí)稍長。金屬檢測器中的采樣電路用于檢測反射脈沖的持續(xù)時(shí)間。南通金屬檢測儀器將測量的持續(xù)時(shí)間與預(yù)期的持續(xù)時(shí)間進(jìn)行比較，電路可以判斷是否有另一個(gè)磁場延遲反射脈沖的衰減。假設(shè)反射脈沖的衰減時(shí)間比正常情況下長幾微秒，這可能是由于金屬物體的存在干擾了反射脈沖。

昆田為您詳細(xì)介紹金屬檢測器相關(guān)內(nèi)容：食品金屬探測儀設(shè)備靈敏度即所使用的標(biāo)準(zhǔn)測試卡直徑，現(xiàn)在多采用直徑為0.8、1.0、1.2、1.5、2.0MM的鐵球測試卡。實(shí)際食品金屬探測儀敏度要采用那 種型號的測試卡，要視具體檢測的產(chǎn)品和出口國際及食品金屬探測儀的通道高度等因素來決定。以上食品金屬探測儀靈敏度校驗(yàn)需每三至四個(gè)小時(shí)進(jìn)行一次，并將校驗(yàn)結(jié)果書 面記錄下來，供應(yīng)客戶查驗(yàn)。

導(dǎo)磁效應(yīng)是鐵磁性材料和導(dǎo)電材料能產(chǎn)生電抗效應(yīng)。通過下圖可以看出，檢測頻率越低，對鐵磁性物質(zhì)具有較好的檢測效果；檢測頻率越高，對非鐵磁性物質(zhì)具有較好的檢測效果。而產(chǎn)品固有的效應(yīng)會隨著頻率的增大而增大。低頻信號更容易檢測出鐵磁類金屬，而高頻信號則更容易檢測出非鐵磁類金屬。所以為了保證檢測精度，我們就需要選擇合適的檢測頻率，來達(dá)到理想的檢測效果。

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