線纜表面缺陷檢測(cè)儀是唯1能夠采集顯示和分析產(chǎn)品表面每一平方毫米的工具。分析內(nèi)容包括:電纜護(hù)套管道管件棒材和水溶膠帶表面這是目前檢測(cè)表面缺陷徹底的方法表面缺陷檢測(cè)器記錄缺陷位置以及保存缺陷圖片。操作員可以通過(guò)使用表面缺陷檢測(cè)器來(lái)查看當(dāng)前表面圖片，光纖檢測(cè)廠家，近一次的表面缺陷圖片以及缺陷尺寸。警報(bào)輸出:紅色LED亮，報(bào)警常開(kāi)接點(diǎn)閉合，光纖檢測(cè)儀器，數(shù)據(jù)輸出

光纖傳輸特性參數(shù)測(cè)試

衰減的測(cè)試方法

衰減是光纖中光功率減少量的一種度量，它取決于光纖的性質(zhì)和長(zhǎng)度，并受測(cè)量條件的影響。衰減的主要測(cè)試方法如下：

●截?cái)喾?/p>

截?cái)喾ㄊ菧y(cè)量光纖衰減特性的基準(zhǔn)試驗(yàn)方法（RTM），在不改變注入條件時(shí)測(cè)出通過(guò)光纖兩橫截面的光功率，常州光纖檢測(cè)，從而直接得到光纖衰減。

●損耗法

 損耗法是測(cè)量光纖衰減特性的替代試驗(yàn)方法（ATM），原理上類似于截?cái)喾?，但光纖注入端的光功率是注入系統(tǒng)輸出端的出射光功率。測(cè)得的光纖衰減中包含了試驗(yàn)裝置的衰減，必須分別用附加連接器損耗和參考光纖段損耗對(duì)測(cè)量結(jié)果加以修正。

●后向散射法

 后向散射法是測(cè)量光纖衰減特性的替代試驗(yàn)方法（ATM），光纖檢測(cè)工廠，它測(cè)量從光纖中不同點(diǎn)后向散射至該光纖始端的后向散射光功率。這是一種單端測(cè)量方法。

擊穿試驗(yàn)是在一定的試驗(yàn)條件下，升高電壓直到試品發(fā)生擊穿為止，測(cè)量擊穿場(chǎng)強(qiáng)或擊穿電壓。通過(guò)擊穿試驗(yàn)可以考纜承受電壓的能力與工作電壓之間的安全裕度。擊穿場(chǎng)強(qiáng)時(shí)電纜設(shè)計(jì)中的重要參數(shù)之一。電纜在運(yùn)行中一般承受的是交流電壓，但在直流輸電系統(tǒng)中及某些特殊場(chǎng)合也有承受直流電壓的，對(duì)于高電壓電纜還可能要遭受大氣電壓（雷電）和操作過(guò)電壓。因此，按實(shí)驗(yàn)電壓波形的不同，可以分為1.交流（工頻）電壓、2.直流電壓、3沖擊電壓三種絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)。

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