聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時會被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，測定厚度達(dá)2000 mm左右，EDX8000T Plus鍍層測厚儀，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料

可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe， 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度

膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀

Simply The Best

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

英飛思科學(xué)儀器公司-衡水EDX8000T Plus鍍層測厚儀由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司是從事“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”的企業(yè)，公司秉承“誠信經(jīng)營，用心服務(wù)”的理念，為您提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)。歡迎來電咨詢！聯(lián)系人：張經(jīng)理。