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柵極位于陰、陽(yáng)極之間,靠近燈絲頂端,為形似帽狀的金屬物,中心亦有一小孔供電子束通過(guò)。柵極上加有0~1000V的負(fù)電壓(對(duì)陰極而言),這個(gè)負(fù)電壓稱為柵偏壓VG,它的高低不同,可由使用者根據(jù)需要調(diào)整,柵極偏壓能使電子束產(chǎn)生向中心軸會(huì)聚的作用,同時(shí)對(duì)燈絲上自由電子的發(fā)射量也有一定的調(diào)控抑制作用。
工作原理 ,在燈絲電源VF作用下,電流IF流過(guò)燈絲陰極,使之發(fā)熱達(dá)2500℃以上時(shí),便可產(chǎn)生自由電子并逸出燈絲表面。加速電壓VA 使陽(yáng)極表面聚集了密集的正電荷,形成了一個(gè)強(qiáng)大的正電場(chǎng),在這個(gè)正電場(chǎng)的作用下自由電子便飛出了電子外。調(diào)整VF可使燈絲工作在欠飽和點(diǎn),電鏡使用過(guò)程中可根據(jù)對(duì)亮度的 需要調(diào)節(jié)柵偏壓VG的大小來(lái)控制電子束流量的大小。
電子能量損失光譜儀通常在光譜模式和圖像模式上操作,這樣就可以隔離或者排除特定的散射電子束。由于在許多圖像中,非彈性散射電子束包含了許多操作者不關(guān)心的信息,從而降低了有用信息的可觀測(cè)性。這樣,電子能量損失光譜學(xué)技術(shù)可以通過(guò)排除不需要的電子束有效提高亮場(chǎng)觀測(cè)圖像與暗場(chǎng)觀測(cè)圖像的對(duì)比度。
晶體結(jié)構(gòu)可以通過(guò)高分辨率透射電子顯微鏡來(lái)研究,這種技術(shù)也被稱為相襯顯微技術(shù)。當(dāng)使用場(chǎng)發(fā)射電子源的時(shí)候,觀測(cè)圖像通過(guò)由電子與樣品相互作用導(dǎo)致的電子波相位的差別重構(gòu)得出。然而由于圖像還依賴于射在屏幕上的電子的數(shù)量,對(duì)相襯圖像的識(shí)別更加復(fù)雜。然而,這種成像方法的優(yōu)勢(shì)在于可以提供有關(guān)樣品的更多信息。
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