現(xiàn)在我們發(fā)現(xiàn)束流的設(shè)置應(yīng)該是隨著放大倍數(shù)而變換的，對(duì)于TESCAN用戶(hù)來(lái)說(shuō)，比較方便，植物抗性淀粉掃描電鏡檢測(cè)技術(shù)服務(wù)，可以直接從軟件中讀取當(dāng)前電鏡調(diào)節(jié)對(duì)應(yīng)的束流，結(jié)合視野寬度很容易知道單點(diǎn)像素的大小，從而快速找到束斑與像素匹配的工作條件。既保證了沒(méi)有信息丟失，又保證了的束流強(qiáng)度和信噪比。

此外對(duì)于EBSD分析也一樣，EBSD分析為了追求速度，需要較大束流，而束流增大會(huì)增大束斑，導(dǎo)致花樣重疊無(wú)法標(biāo)定。而TESCAN用戶(hù)則可以輕易的根據(jù)EBSD的步長(zhǎng)來(lái)設(shè)置束斑大小，確保在不會(huì)出現(xiàn)花樣重疊的情況下束斑達(dá)到，采集速度快。

電子顯微鏡是使用電子來(lái)展示物件的內(nèi)部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長(zhǎng)比可見(jiàn)光的波長(zhǎng)短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長(zhǎng)的限制，因此電子顯微鏡的理論分辨率（約0.1納米）遠(yuǎn)高于光學(xué)顯微鏡的分辨率（約200納米）。

透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫(xiě)TEM），簡(jiǎn)稱(chēng)透射電鏡 ，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)。

大型透射電鏡大型透射電鏡（conventional TEM）一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號(hào)對(duì)應(yīng)不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關(guān)，可達(dá)0.2-0.1nm，機(jī)型可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨。低壓透射電鏡低壓小型透射電鏡（Low-Voltage electron microscope，LVEM）采用的電子束加速電壓（5kV）遠(yuǎn)低于大型透射電鏡。較低的加速電壓會(huì)增強(qiáng)電子束與樣品的作用強(qiáng)度，從而使圖像襯度、對(duì)比度提升，尤其適合高分子、生物等樣品；同時(shí)，低壓透射電鏡對(duì)樣品的損壞較小。  分辨率較大型電鏡低，1-2nm。由于采用低電壓，可以在一臺(tái)設(shè)備上整合透射電鏡、掃描電鏡與掃描透射電鏡



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