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材質(zhì)必須均勻。你的待測(cè)元素不均勻的話,多的地方和少的地方差別會(huì)較大。因?yàn)閄RF光譜儀入射光線一般較窄,直徑1-5微米,也就是說照射到樣品的區(qū)域會(huì)很小,所以不均勻樣品檢測(cè)會(huì)不準(zhǔn)確,當(dāng)然主要也是看不均勻程度。
你的交錯(cuò)規(guī)律排列指的什么?如果是一層高分子,一層無機(jī)物,在一層高分子一層無機(jī)物,并且每層的厚度一定(比如層高分子都是10微米厚)。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的,但是用X熒光光譜儀測(cè)量還是有問題,因?yàn)閄熒光透過不同物質(zhì)有厚(某元素的X熒光透射不出來的厚度,原因是自吸收)的問題。
這類標(biāo)物目前有歐盟研制的用于塑料樣品X射線熒光分析的, 代號(hào)JSAC0651-55, 圓片狀, 規(guī)格為4*40 mm;用于塑料樣品X射線熒光分析的鉛、鎘、鉻、, 代號(hào)JSAC0631-32, 圓片狀, 規(guī)格為4*40mm;還有我國研制的RoHS檢測(cè)X射線熒光分析用ABS中的鉛、鎘、鉻、,CS995型紅外碳硫分析儀, 代號(hào)GBW (E) 081634-081638, 圓片狀, 規(guī)格為4*40 mm;Ro HS檢測(cè)X熒光分析用PVC中的鉛、鎘、鉻、, 代號(hào)GBW (E) 081121-081125, 圓片狀, 規(guī)格為4*40 mm。
Compass500能量色散ROHS分析儀在快速無損、 現(xiàn)場(chǎng)ROHS篩選分析方法中, 具有不可取代的地位。 無論是從硬件方面還是軟件方面, 特別是近幾年, 隨著微電子技術(shù)、 計(jì)算機(jī)技術(shù)、 核技術(shù)和材料科學(xué)技術(shù)的發(fā)展, X射線光譜現(xiàn)場(chǎng)ROHS分析儀在以下幾方面將得到進(jìn)一步的發(fā)展。
實(shí)驗(yàn)室監(jiān)測(cè)方法
監(jiān)測(cè)方法 來源 類別
原子吸收法GB7475-87水質(zhì)
mcso-四(對(duì)磺基苯)卟啉光度法WS/T126-1999作業(yè)場(chǎng)所空氣
氫化物發(fā)生-原子吸收法WS/T127-1999作業(yè)場(chǎng)所空氣
原子吸收法GB/T15555.2-95固體廢物浸出液
石墨爐原子吸收法GB/T17141-1997土壤
火焰原子吸收法GB/T17140-1997土壤
火焰原子吸收法GB/T15264-94空氣質(zhì)量
原子吸收法CJ/T101-99城市生活垃圾
原子吸收法《固體廢棄物試驗(yàn)分析評(píng)價(jià)手冊(cè)》中國環(huán)境監(jiān)測(cè)總站等譯固體廢棄物
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