儀器檢測(cè)過(guò)程：通過(guò)機(jī)械手將待檢的玻璃基板平放至儀器的上料平臺(tái)，觸發(fā)上料信號(hào)進(jìn)行上料動(dòng)作，上料動(dòng)作完成。由氣缸及電磁閥對(duì)玻璃基板進(jìn)行夾持固定，并由主軸電機(jī)拖動(dòng)其勻速經(jīng)過(guò) CCD 陣列掃描成像，等待圖形處理結(jié)果，檢測(cè)不良標(biāo)記公司，若有缺陷則由主軸電機(jī)拖動(dòng)其運(yùn)動(dòng)到指1定位置完成復(fù)檢，高州檢測(cè)不良標(biāo)記，若待測(cè)基板存在多個(gè)缺陷，則需進(jìn)行多次復(fù)檢，復(fù)檢完成將玻璃基板拖動(dòng)至下料區(qū)，夾持固定放開(kāi)，進(jìn)行下料過(guò)程。若玻璃基板無(wú)缺陷則由主軸電機(jī)直接拖動(dòng)其運(yùn)動(dòng)到下料區(qū)，夾持固定放開(kāi)，完成下料。

可以說(shuō)基于任何圖像傳感方法（如可見(jiàn)光成像、紅外成像、超聲成像等等）的自動(dòng)化檢測(cè)技術(shù)都可以認(rèn)為是MVI或AVI。當(dāng)采用光學(xué)成像方法時(shí)，MVI實(shí)際上就變?yōu)锳OI。因此AOI可以認(rèn)為是MVI的一種特例。

根據(jù)成像方法的不同，AOI又可分為三維（3D）AOI和二維（2D）AOI，三維AOI 主要用于物體外形幾何參數(shù)的測(cè)量、零件分組、定位、識(shí)別、機(jī)器人引導(dǎo)等場(chǎng)合； 二維AOI主要用于產(chǎn)品外觀(guān)（色彩、缺陷等）檢測(cè)、不同物體或外觀(guān)分類(lèi)、良疵品檢測(cè)與分類(lèi)等場(chǎng)合。

AOI的全稱(chēng)是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，檢測(cè)不良標(biāo)記價(jià)格，是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。AOI是新興起的一種新型測(cè)試技術(shù)，檢測(cè)不良標(biāo)記報(bào)價(jià)，但發(fā)展迅速，很多廠(chǎng)家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB，采集圖像，測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格的參數(shù)進(jìn)行比較，經(jīng)過(guò)圖像處理，檢查出PCB上缺陷，并通過(guò)顯示器或自動(dòng)標(biāo)志把缺陷顯示/標(biāo)示出來(lái)，供維修人員修整。

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