測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司

英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，寧德測厚儀，實(shí)現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器可實(shí)現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，測厚儀好不好，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進(jìn)行日常測量。

膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀

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