X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場(chǎng)分析和過(guò)程控制分析等方面儀器之一。中文名X射線熒光分析儀檢出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm樣品形狀大460×380mm(高150mm)適用對(duì)象塑料/金屬/紙/涂料/油墨/液體，在測(cè)定微量成分時(shí)，由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會(huì)產(chǎn)生較大的背景，致使目標(biāo)峰的觀測(cè)比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對(duì)高靈敏度分析的影響，此熒光分析儀配置了4種可自動(dòng)切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調(diào)整出具感度的輻射，進(jìn)一步提高了S/N的比值，長(zhǎng)治XRF測(cè)試，從而可以進(jìn)行更高靈敏度的微量分析。




X 射線熒光光譜儀的不斷完善和發(fā)展所帶動(dòng)的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、、刑偵、考古等諸多部門(mén)和領(lǐng)域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對(duì)其物質(zhì)的化學(xué)元素、物相、化學(xué)立體結(jié)構(gòu)、物證材料進(jìn)行試測(cè)，XRF測(cè)試供應(yīng)商，對(duì)產(chǎn)品和材料質(zhì)量進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，對(duì)人體進(jìn)檢和微電路的光刻檢驗(yàn)等的重要分析手段，也是材料科學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等普遍采用的一種快速、準(zhǔn)確而又經(jīng)濟(jì)的多元素分析方法。




對(duì)于儀器測(cè)量結(jié)果的處理，遵行如下法則。由于被測(cè)的首飾產(chǎn)品不同，使用的儀器不同，檢測(cè)人員的素質(zhì)水平不同，XRF測(cè)試怎么樣，對(duì)檢測(cè)結(jié)果的接收范圍建議在以下范圍內(nèi)選取。隨貴金屬含量的減少，XRF測(cè)試怎么用，可接收的范圍將增大。 測(cè)量結(jié)果的誤差范圍為0.1%—3%，也可以根據(jù)委托方的協(xié)議確定。對(duì)結(jié)果如有爭(zhēng)議，應(yīng)以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656的分析結(jié)果為準(zhǔn)?！√K州英飛思科學(xué)儀器有限公司




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