英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，微區(qū)膜厚儀，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標配薄膜FP無標樣分析法軟件，微區(qū)膜厚儀廠商，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

它以PLC和工業(yè)計算機為，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng)，微區(qū)膜厚儀廠家，達到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.

膜厚儀EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀

Simply The Best

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

微區(qū)膜厚儀-英飛思科學(xué)儀器-微區(qū)膜厚儀廠商由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。“光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀”選擇蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司，公司位于：蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室，多年來，英飛思科學(xué)堅持為客戶提供好的服務(wù)，聯(lián)系人：張經(jīng)理。歡迎廣大新老客戶來電，來函，親臨指導(dǎo)，洽談業(yè)務(wù)。英飛思科學(xué)期待成為您的長期合作伙伴！