應(yīng)用編輯 語音1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,微區(qū)膜厚儀供應(yīng)商,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時(shí),微區(qū)膜厚儀,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量儀器。
測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計(jì);有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì);有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì);還有利用機(jī)械接觸式測量原理的測厚儀等。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司

英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,微區(qū)膜厚儀公司,實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測器可實(shí)現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點(diǎn)位測量功能有助于提高測量精度。
>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時(shí)對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量
配合用戶友好的軟件界面,可以輕松地進(jìn)行日常測量。
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