英飛思XRF鍍層測厚儀優(yōu)勢

>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件

通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域，實現(xiàn)高精度測量。

>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)

高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。

>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)

的點位測量功能有助于提高測量精度。

>全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量

配合用戶友好的軟件界面，可以輕松地進行日常測量。

用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，測厚儀怎么用，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安全。根據(jù)測定原理的不同，常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。

膜厚儀EDX8000B可分析的常見鍍層材料

可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，秦皇島測厚儀，Zn/Fe等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn，測厚儀供應(yīng)商， Ni/Cu/Fe等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe， 同時分析鎳磷含量和鍍層厚度

測厚儀供應(yīng)-英飛思科學(xué)(在線咨詢)-秦皇島測厚儀由蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司提供。蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司堅持“以人為本”的企業(yè)理念，擁有一支高素質(zhì)的員工隊伍，力求提供更好的產(chǎn)品和服務(wù)回饋社會，并歡迎廣大新老客戶光臨惠顧，真誠合作、共創(chuàng)美好未來。英飛思科學(xué)——您可信賴的朋友，公司地址：蘇州工業(yè)園區(qū)唯新路69號一能科技園2號樓407室，聯(lián)系人：張經(jīng)理。