同品牌ICT的測(cè)試原理相同或相似。上世紀(jì)80年代前后，LCR測(cè)試儀哪家好，日本將美國(guó)同類(lèi)產(chǎn)品加以簡(jiǎn)化和小型化，并改成使用氣動(dòng)壓床式，代表的有日本TESCON，OKANO，使得ICT簡(jiǎn)單易用并低成本，LCR測(cè)試儀，使之成為電子廠不可或缺的必備檢測(cè)設(shè)備，并迅速推廣普及。80年代臺(tái)灣由令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，臺(tái)灣開(kāi)始完全TESCON測(cè)試儀。




適用領(lǐng)域：12寸Wafer、IC測(cè)試之產(chǎn)品LCD半自動(dòng)探針臺(tái)機(jī)械手臂取放片電動(dòng)、鍵入坐標(biāo)尋位置量測(cè)尺寸（mm）：1800x1600、1300x1200、1200x1000LCD手動(dòng)探針臺(tái)白熾燈或者LED整面背光TFT元件特性、Driver IC量測(cè)分析機(jī)臺(tái)尺寸（mm）：800x600、500x400、300x300PCB量測(cè)探針臺(tái)（TDR）高頻測(cè)試探頭GSG / GS / SG頻率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ機(jī)臺(tái)尺寸同LCD 探針臺(tái)太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)探針臺(tái)（Solar Cell 量測(cè)系統(tǒng)）




探針座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開(kāi)關(guān)可搭配Probe card測(cè)試適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所、高校等半自動(dòng)型chuck尺寸800mm/600mmX，Y電動(dòng)移動(dòng)行程200mm/150mmchuck粗調(diào)升降9mm，微調(diào)升降16mm可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實(shí)體顯微鏡針座擺放個(gè)數(shù)6～8顆顯微鏡X-Y-Z移動(dòng)范圍2"x2"x2"科迪儀器科技(蘇州)有限公司科迪儀器科技(蘇州)有限公司




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