典型應(yīng)用：

?黃金含量分析，K值鑒定（0-24Karat）

?Ag，Pd，Pt和Rh等分析

?金雜質(zhì)分析

?涂層厚度測量

?有害金屬篩查：Cd，Pb，Ir，Ru

?電鍍液分析

Compass 900設(shè)計(jì)時(shí)尚而大方，可以放在用戶展廳或者前臺，也可以連接聯(lián)網(wǎng)以實(shí)現(xiàn)高生產(chǎn)率的QA / QC工作。Compass900便攜式測金儀可輕松運(yùn)輸?shù)娇蛻粜枰膱龅?，在現(xiàn)場進(jìn)行快速測試。

當(dāng)具有高能量的入射（一次）X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí)，會打破（待測樣品的）原子結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性。處于低能量電子殼層（如：K層）的電子更容易被激發(fā)而從原子中逐放出來，Compass 200，電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位，這時(shí)處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來補(bǔ)充相應(yīng)的電子空位。由于不用電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來.




不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量，這一個(gè)過程就是我們所說的X射線熒光（XRF）。探測系統(tǒng)測量這些出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量——每種元素的發(fā)射強(qiáng)度與樣品中的元素含量成正比，通過預(yù)先設(shè)置好的校正曲線計(jì)算出來，可顯示其含量。特點(diǎn)分析范圍：0.3%～99.99%測量時(shí)間：自適應(yīng)測量精度：±0.1%測試環(huán)境：常溫常態(tài).




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